遇到一个奇怪的问题，谁能给点线索

EEPROM标称50W次写操作，
但写了几万次之后，2万到10万次不等。写EEPROM就会出现一个诡异的现象。
写EEPROM，编程完成之后，有个读回来校验的代码，这个校验大部分的时候是可以通过
的，也有不能通过，但次数很少。
然后再次读取EEPROM中的数据，这时读回来的数据是错误的。错误的位置在同一个页里
是固定的，不同页的错误位置不同。
连续读几次，大部分是2～3次读取操作之后，读取到的数据又会恢复到正确，之后读取
到的数据都会是正确的。偶尔也出现过读了1000+次之后数据才恢复正确的。
有没有大神知道这个现象是什么原因引起的？

这年头还有人在这里讨论技术问题，真有定力
我觉得嘛 微电子行业的技术就这样子好了 不然越搞越便宜 集成度越高 大家都没饭吃
就保持现状，大家各占各地，就卖卖东西好啦

你看过读取错误一般是1变成0了还是0变成1了？

读取正确后，再次擦写，再读取会保持正确吗？

多换几个不同型号的eeprom确认你读写电路功能没问题时序没问题校验代码没问题再说吧。
不排除你拿到的eeprom确实是淘宝上买的山寨货。

多数是1变0，也有0变1的情况，关键问题是多读几次，数据就会恢复正确
我错误一般出现在快速对同一个页做读写操作的时候。

会不会是相对应的cell 附近有 leakage defect? 复读的 read disturb current charge up/discharge bit line, 然后暂时可以读写，不过 erase 后再重复这个过程？

你说快速对同一页读写？是指又读又写？
如果长期读，反而没事儿？

读回来校验如果不通过是不是应该再写、再校验，再写再验，直到通过或超出次数限制？
你这个就像是一直在校验，后来终于全部通过了。

是的，就是写入数据后，然后读取数据，这时数据不对，多读几次，数据恢复为对的，
然后再次进入下一个写入读出测试循环，这些测试是对同一个page操作。
不是每个写入读出操作都会出现上述的错误，但错误几率很高
另外测试过，读的数据对了之后，再怎么读数据都不会再次出现错误。

问题是校验那次读到的数据有时是对的。再次读到的数据才是错的，多读几次数据又是对的。