求教边界扫描测试方案

请问现在大家做边界扫描是使用SYNOPSYS BSD Compiler，还是Mentor Tessent方案更合适一些？亦或大家都是自己写JTAG逻辑？
谢谢啦

如果我想用Synopsys DFT Compiler Adaptive Scan做测试压缩，用Mentor的Tessent做Memory BIST和BSD，然后用JTAG TAP作为统一的测试控制接口，不知道M家的工具在知道网表、测试协议的情况下能实现对S家结果的自动化程度高一些的集成吗？
小弟对M家产品不是很熟悉，想了解一下

。。。。
你太低估Mentor tool了，你要做多少倍压缩？

RTL级做Mbist（verilog的话）
然后网表级DFTMAX+BSDC

小弟的意思是利用Mentor生成的JTAG来控制边界扫描、BIST和 Synopsys Adaptive Scan

太高深了，JTAG是怎么和后面哥仨故对的一拨儿的......

小弟打算20X左右的测试压缩，主要是对S家的东西之前有过一定了解，对M家的不是很熟悉

现在1149.1可以利用1500进行BIST相关的操控，好像Mentor和Virage都有类似的Flow，就是不知道M家有没有可以很好控制S家Adaptive Scan的接口，按说有网表和测试协议，小弟感觉实现第三方集成也不是很困难。

小弟的问题是M家的工具能否较为自动化地实现JTAG对S家SCAN控制的集成，譬如像控制BIST的1500那样的机制。从测试原理上看，这种控制电路应该不太复杂，呵呵

这要求太高了吧, 你是做产品还是搞研究玩玩?

Mentor和synopsys的扫描压缩互不兼容。
如果不用压缩倒是可以混在一起。