微波EDA网,见证研发工程师的成长!
首页 > 研发问答 > 微电子和IC设计 > 微电子学习交流 > 这个测量电阻的方法叫什么

这个测量电阻的方法叫什么

时间:12-12 整理:3721RD 点击:
听教授介绍了一个测量材料电阻的方法, 但是自己不是这个专业的,不懂, 所以上来问下。 如图,
我要测量的是一个金膜的点阻, 这个金膜是镀在玻璃上的。
教授说,让我在金膜上刷上四条导电的银粉, 然后测量电压和电流, 最后通过计算得到膜的电阻。
大家知不知道这叫什么方法,对于那4条银粉带的形状有什么要求,还有这四条带子之间的距离有什么要求,电阻的计算公式是什么。
我知道有4点探针测量电阻的,但是那是4个点而已,和这4个带子是不一样的吧,所以电租的计算公式也应该不一样吧

你说的欧姆法是不是一般的测量方法,可是这个明显不同啊。

你见过这个方法吗,对于那4条银粉带的形状有什么要求,还有这四条带子之间的距离有什么要求,电阻的计算公式是什么。谢谢了

不懂你做的是什么,但既然问了...我就尝试按功率管的套路答一下吧,不保证可操作性....
银粉是为了良好接触,和电流表的接触应该良好,多几个连接点之类的最好,保证电流
均匀,银粉的宽度不应该太宽,距离跟最后的电阻有关,应该足够长以减小电流表内阻
的影响...还有,如果两个银粉中间可以断路比较容易算....否则那部分并联电阻还得考虑进
去....
其实吧,如果能测出薄膜厚度,拿电阻率算一下更简单....

其实我就是要测量我赌的这个纳米级金膜的导电性。教授说用这个方法可以测量。我不是这个专业的,也不太懂。也不敢让教授一点点给我解释清楚,所以就上这里找内行的人问问了。那你知道这个电阻的计算公式吗

虽然这个方法是可行的,但是需要提醒你的是:金的电导率可是金属中最高的,如果金膜微观结构够好或是较厚的话,也许测不到什么准确结果。

金的导电率明显不如铜,接触过封装bonding线的应该都知道这一点吧

就是四探针法啊,没什么特别的。电阻小的时候就这么测好了。可以尝试尝试探针测试(不同位置)或者封装之后测试差别(没试过,只是感兴趣),结果一般会做修正吧,就看你电阻多小了,而且需要误差多少了。

Copyright © 2017-2020 微波EDA网 版权所有

网站地图

Top