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求文献一篇

时间:12-12 整理:3721RD 点击:
标题: Effects of Mask Pattern Geometry on Plasma Etching Profiles
作者: Fukumoto H, Eriguchi K, Ono K
来源出版物: JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS   卷: 48   期: 9 文献编号: 096001   子辑: Part 1   出版年: SEP 2009
我的邮箱:s_guo@emails.bjut.edu.cn
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