有关SDRAM使用手册上的AC测试操作的疑问

有关这个测试，有很多疑问，求论坛的各位大牛们解答：
1、这个AC测试有什么用?目的是什么?
2、为什么负载电容选择30pF?
3、一般数字芯片输出的不就是高电平和低电平，那为什么还有图右侧AC输出负载电路的情况呢?
4、AC输出负载电路那张图中50ohm是不是传输线的阻抗?
5、参数的第四行时序测试参考电压是啥意思?是干啥的?为什么是1.4V?
6、按照这样的参数，我在设计器件的外围电路应该注意什么呢?

1、这个AC测试有什么用?目的是什么?
-----目的即使确保控制信号和数据信号正确的读取。         
2、为什么负载电容选择30pF?
-----这里我理解指示一个测试条件而已，因为测量芯片输出时序（AC特性）最常用的就是示波器，对于交流信号，负载（测试探头）的电容参数会影响到AC参数。这里只是定义了一个测试条件！
3、一般数字芯片输出的不就是高电平和低电平，那为什么还有图右侧AC输出负载电路的情况呢?
-----这里指示一个测试模型，告诉你原厂是在什么样的模型下测的数据数据的。
4、AC输出负载电路那张图中50ohm是不是传输线的阻抗?
-----是的 ，传输线50ohm特征阻抗
5、参数的第四行时序测试参考电压是啥意思?是干啥的?为什么是1.4V?
----- （2.4-0.4）/2+0.4 =1.4 高低电平的中间数值
6、按照这样的参数，我在设计器件的外围电路应该注意什么呢?

这些电容参数对设计电路有什么影响呢?