SRG最新基准测试研究揭示: LTE芯片组性能存在巨大差异

Signals Research Group（SRG）今天宣布了对LTE芯片组最新基准测试的结果。SRG是该行业中惟一的独立数据性能研究机构，其测试报告得出的结论是，尽管所有的芯片组在理想网络条件下的性能表现基本相当，但在更为真实且更具挑战性的测试场景中，各芯片组的性能仍存在巨大的差异。

利用Spirent 8100 LTE解决方案上基于实验室的测试方法，SRG采集并分析了八种LTE基带芯片组的数据性能，这些芯片组分别来自Altair Semiconductor, GCT, Intel, Nvidia, Qualcomm, Renesas Mobile, Samsung Electronics,  Sequans Communications.

本轮最新测试标志着SRG与思博伦通信在芯片组性能测试方面的第八次合作。8100 LTE解决方案被用于将所有的芯片组置于完全相同的网络条件集合之下，并将每项测试自动重复多次，从而生成有统计学上有意义的客观结果。此项研究中的一些关键亮点如下：

·来自三家不同供应商的LTE芯片组共同获得最高荣誉，并且在所有芯片组中脱颖而出。
·在更具挑战性的测试场景中，性能最高和性能最差的芯片组之间的差异频频超过20个百分点。
·在芯片组报告信道条件的方式（使用信道质量指标- CQI），以及如何利用MIMO的方法，包括开放环路和封闭环路，以及发送多样性等方面，不同芯片组的供应商很明显持有不同的观点。

Signals Research Group公司CEO  Michael Thelander指出："在最近的基准测试研究中,有三家LTE芯片组在所有芯片组中脱颖而出。同时，在特定的测试场景中，所有的芯片组性能表现都不错， 说明经过一定的优化他们都能有相当的性能表现。但对那些未能在此次基准测试中予以研究的方案来说，我们对其性能表现还存在不确定性。因为产品在真实环境下的表现和可以参加基准测试研究的芯片性能还是存在很大的差异。

这些测试在各类真实的网络条件下对每种芯片组在应用层的下行链路吞吐量和关键性能指标进行了测量。这些测试场景均基于3GPP技术报告（TR）的最新规格，包括各类静态条件和符合行业标准的步行衰减和车辆衰减条件。在测试中使用了共计32种LTE测试场景。

对LTE芯片组性能基准测试的完整分析已经编入SRG最新的报告中。该报告将于2月26日发表并通过signalsresearch网站提供。