通用测试参加2016年国际电磁兼容论坛暨展览

2016年国际电磁兼容论坛暨展览(The 2016 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility)于7月25日至29日在加拿大渥太华会议邵氏会议中心(The Shao Center)举行。由IEEE EMC协会主办的国际电磁兼容论坛暨展览是集技术文章、研讨会、展览、讲座、培训和社交活动等为一体的、电磁兼容行业最权威的大型综合学术活动。

作为面向全球市场的无线终端测试解决方案提供商，通用测试系统有限公司在本次大会上成功主办了有关无线终端OTA测量的技术研讨会，并做了两个专题报告，同时展出了新型吸波材料、小型多探头OTA测量系统、无源互调暗室等一系列自主创新的产品，吸引了来自不同国家和地区的业界人士前来参观、咨询，更有部分企业代表、专家学者、媒体人士与通用测试进行了深度洽谈，表示非常看好通用测试的发展前景，并提出希望进行深度合作，共同开拓市场。