恒达微波已建成覆盖0.5GHz-110GHz天线测试能力暗室
时间:07-24
来源:恒达微波
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恒达微波已建成3个微波暗室:天线平面近场、远场测试复合暗室,天线远场测试暗室,THZ天线测试暗室。测试频率覆盖0.5GHz-110GHz;并已通过西安电子工程研究所校准实验室的计量检测。
暗室1:天线平面近场、远场测试复合暗室(21m*14*10m)
测试频率0.5GHz-110GHz;天线平面近场扫描有效行程9m*6m
暗室指标--平面近场指标 | |
扫描架有效行程 | ≥9m×6m×0.5m(X×Y×Z) |
三轴分辨率 | 0.003mm |
位置精度 | X轴:0.05mm;Y 轴:0.05mm;Z 轴:0.03mm;P 轴:0.05° |
重复定位精度 | X轴:0.05mm;Y 轴:0.05mm;Z 轴:0.03mm;P 轴:0.05° |
平面度(RMS) | ≤0.1mm @ 9m×6m |
直线度 | ≤0.03mm |
X 轴、Y 轴、Z 轴任意面与坐标原面的垂直度 | ≤0.05° |
系统动态范围 | >60dB |
增益测试误差 | 优于±0.3dB |
波束宽度最大测试误差 | ≤波束宽度×1%(波束宽度>2°) |
波束指向最大测试误差 | ≤波束宽度×1%(波束宽度>2°) |
增益测量精度 | ≤±0.2dB |
副瓣测量精度 | ≤±0.7dB |
≤±0.9dB | |
≤±1.5dB |
暗室指标--远场测试场指标 | |
暗室静区尺寸 | 3m×3m×3m |
静区性能 | 1GHz~2GHz: ≤-40dB |
2GHz~4GHz: ≤-45dB | |
4GHz~40GHz:≤-50dB | |
场均匀性 | 横向≤±0.25dB @ 1GHz~40GHz |
纵向≤±0.25dB @ 1GHz-40GHz | |
交叉极化隔离度 | ≤﹣27dB @ 2GHz~40GHz |
暗室2:天线远场测试暗室(12m*6m*3m)
测试频率:1GHz-110GHz
暗室3:THZ天线测试暗室(6m*7m*3m)
测试频率:30GHz-110GHz小口径天线
天线远场测试场
天线远场测试场 | 测试距离 | 测试频率 |
场1 | 30m | 100MHz-110GHz |
场2 | 60m | 100MHz-110GHz |
场3 | 300m | 100MHz-110GHz |
微波暗室的建成,大大提升了恒达微波公司在微波毫米波天线技术方面的研发实力,检测能力和批生产能力。同时,公司向同行业厂商和用户提供微波毫米波天线及产品测试测量服务,提供专业的、高质量、高性价比、标准化的天线系统测试解决方案。
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