爱德万全新测试方案获Marvell采用 为高产能IC测试降低成本

业界知名的测试设备商家爱德万测试日前宣布已向美满电子科技(Marvell)提供一套全新的测试方案作为评估，爱德万测试T2000增强型性能解决方案(EPP)和M4841动态测试分选机(Dynamic Test Handler)相结合的测试方案可对16 个元件进行同测，针对包括基频处理器，应用处理器，微处理器，微控制器以及高度整合式电源IC (PMICs)等高产能半导体实现最低FT测试成本。

"Marvell和Advantest在各自领域内都处于领先地位"。Marvell半导体有限公司运营副总Albert Wu指出，"针对芯片及产品自身特性，双方共同致力于在同一平台上共同开发出灵活的、低成本的测试方案"。

爱德万测试高级副总裁Mak指出,"我们在不断提高该方案的测试能力，随着全球IC产量的不断提高，客户的需求也在不断提高，爱德万测试也在积极应对这些变化"。

该测试方案自2012年1月以来就在Marvell的工程技术中心作为评估，因其性能良好，被Marvell投放到产线中来。

该测试方案具有业内领先水平的并行测试效率，超强的计算能力，总线结构以及高度集成的测试板卡，T2000 EPP的这些特性使得机组可达到每次16个复杂系统单晶片元件的并行测试而不影响整体产能，测试基板的可使用面积达到业界最大，极大程度上扩展了同测元件数量，同时简化了T2000和M4841之间的连接。M4841 handler产量高，成本低，平均无故障时间较长，与被测器件之间的轻微接触可有效保护并避免IC器件受损。T2000+M4841测试方案可支持测试业界最广泛的系统单晶片元件，使FT测试获得最高同测效率。

如今的微处理器、消费电子产品及无线设备器件变得越来越复杂，T2000 EPP凭借其多路测试控制单元，测试板卡结构及其独有的大面积基板结构实现客户各种特定的需求。T2000 EPP的可扩展性，多功能性及其多通道高密度测试板卡可满足单晶片元件的测试需求，同时低成本测试，也使Advantest 在业内形成了独有的优势。

M4841动态测试分选机可支持包括球栅格阵列封装(BGA)，晶片级封装(CSP)以及四列扁平封装(QFP)在内等复杂的IC和封装的高产能并列同测。借助其可即时升级的温控(Tri-Temp)能力，适合便携式数位装置和汽车电子设备等消费类电子元件高产能测试，同时也带来了高效率和低成本。

关于Marvell
Marvell是家世界领先的IC设计研发企业，产品覆盖存储器件，通信器件和消费电子器件。Marvell业务范围广泛，产品广泛用于企业，城市，家庭中的交换机，收发器，通信控制器，无线存储器设备方案等。文中的Marvell指的是"美满电子科技有限公司"及其分公司，欲了解更多信息，请登录www.Marvell.com 。

关于爱德万测试集团
爱德万测试是一家世界一流的技术型企业，也是用于半导体行业的自动化测试设备以及用于电子仪器、系统设计及制造的测量仪器的主要制造商。其主打产品用于全球领先的半导体产品生产线上。公司还致力于开发由纳米技术和太赫兹技术所带动的新兴产品市场，公司近期推出了多视觉测量扫描电子显微镜，既是光掩膜制造业中必不可少的设备，也是一种三维成像及分析工具。爱德万测试集团于1954年成立于东京，并于1982年在美国设立了第一家子公司，目前集团分部遍布世界各地。欲了解更多信息，请登陆www.advantest.co.jp/en-index.shtml。