FLASH存储器的测试方法研究
时间:01-23
来源:EDN
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4.测试方法的综合使用和流水测试
以上,从算法的角度上提高了FLASH芯片的可测性。虽然NOR、NAND型FLASH结构不同,但由于以上算法都可通过计算,顺序产生测试图形,因此可通用于以上两类器件的测试中。
上述三种方法各有优点,在实际应用中可配合使用。地址奇偶性图形测试最为方便高效,因为在写入图形过程中每次只改变一位地址线,而且写入的是相反的数据,所以如果哪一位地址线出现短路立刻会被检查出来,使用该方法最适宜检验地址译码器的故障。齐步法适于用来检验多重地址选择与译码器的故障,并且可以检测写入时噪声对存储芯片特性的影响,它能保证正确的地址译码和每个存储单元存储"1"和"0"信息的能力。在大多数生产测试中,联合使用这两种方法可以判别出FLASH绝大多数的故障。当然,各个厂家生产的芯片在结构和工艺上有一定区别,因此出现各种错误的概率也不同,可以根据实际情况调整方法。由于设计问题,有些芯片还有可能出现其他一些不太常见的错误,这就需要进行更详尽的测试,这时使用移动变反测试法就比较合适。这种方法可以很好地测试芯片的动态错误,并且可根据具体需要详细展开测试或简化测试,对于产品性能分析十分有效。
在具体程序设计时,为简化算法执行,可以将读取产品型号、调用读写命令的语句作为子程序存储在测试仪中,每次需要时都可以无缝调用。
在测试过程中,最耗费时间的是程序擦除操作,一次擦除往往就需要几秒,其解决办法是将擦除工序单独处理。在实际应用中,可使用两台测试仪,其中,在擦除时几个芯片并行运行。这样,一台设备用于读、写、测试,另一台设备用于擦除数据,就可以有效地形成流水线操作,大大节省测试时间。此外,将几种方法综合使用,还有助于提高故障覆盖率。
5.实验结果
根据上述思想,我们在国产BC3192的测试系统平台[7][8]上,对AMD公司的NOR型FLASH--Am29LV400B及三星公司的NAND型FLASH--9F5608UOB都进行了测试。实验表明,和传统的以棋盘格为基础的测试图形[1]相比,奇偶校验法、齐步法和移动变反法产生的测试图形故障覆盖率更高,这些算法由于最多只有两次芯片擦除操作,所以测试时间完全能符合工程测试需要,其中,移动变反法没有擦除操作,所以测试速度最快。在实验中,我们采用上述三种方法中任意一种,按照流水的方法测试,在相同故障覆盖率下,都可以使测试效率可提高40%以上。
6.结论
本文是在传统存储器测试理论基础上对FLASH测试的尝试,该方法保留了传统方法的优点,较好地解决了FLASH存储器测试的困难。该方法方便快捷,流程简单,所有测试图形都可以事先生成,这样就可以直接加载到测试仪中,有利于直接应用于测试仪进行生产测试。
发布者:博子
以上,从算法的角度上提高了FLASH芯片的可测性。虽然NOR、NAND型FLASH结构不同,但由于以上算法都可通过计算,顺序产生测试图形,因此可通用于以上两类器件的测试中。
上述三种方法各有优点,在实际应用中可配合使用。地址奇偶性图形测试最为方便高效,因为在写入图形过程中每次只改变一位地址线,而且写入的是相反的数据,所以如果哪一位地址线出现短路立刻会被检查出来,使用该方法最适宜检验地址译码器的故障。齐步法适于用来检验多重地址选择与译码器的故障,并且可以检测写入时噪声对存储芯片特性的影响,它能保证正确的地址译码和每个存储单元存储"1"和"0"信息的能力。在大多数生产测试中,联合使用这两种方法可以判别出FLASH绝大多数的故障。当然,各个厂家生产的芯片在结构和工艺上有一定区别,因此出现各种错误的概率也不同,可以根据实际情况调整方法。由于设计问题,有些芯片还有可能出现其他一些不太常见的错误,这就需要进行更详尽的测试,这时使用移动变反测试法就比较合适。这种方法可以很好地测试芯片的动态错误,并且可根据具体需要详细展开测试或简化测试,对于产品性能分析十分有效。
在具体程序设计时,为简化算法执行,可以将读取产品型号、调用读写命令的语句作为子程序存储在测试仪中,每次需要时都可以无缝调用。
在测试过程中,最耗费时间的是程序擦除操作,一次擦除往往就需要几秒,其解决办法是将擦除工序单独处理。在实际应用中,可使用两台测试仪,其中,在擦除时几个芯片并行运行。这样,一台设备用于读、写、测试,另一台设备用于擦除数据,就可以有效地形成流水线操作,大大节省测试时间。此外,将几种方法综合使用,还有助于提高故障覆盖率。
5.实验结果
根据上述思想,我们在国产BC3192的测试系统平台[7][8]上,对AMD公司的NOR型FLASH--Am29LV400B及三星公司的NAND型FLASH--9F5608UOB都进行了测试。实验表明,和传统的以棋盘格为基础的测试图形[1]相比,奇偶校验法、齐步法和移动变反法产生的测试图形故障覆盖率更高,这些算法由于最多只有两次芯片擦除操作,所以测试时间完全能符合工程测试需要,其中,移动变反法没有擦除操作,所以测试速度最快。在实验中,我们采用上述三种方法中任意一种,按照流水的方法测试,在相同故障覆盖率下,都可以使测试效率可提高40%以上。
6.结论
本文是在传统存储器测试理论基础上对FLASH测试的尝试,该方法保留了传统方法的优点,较好地解决了FLASH存储器测试的困难。该方法方便快捷,流程简单,所有测试图形都可以事先生成,这样就可以直接加载到测试仪中,有利于直接应用于测试仪进行生产测试。
发布者:博子
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