用全波段测试法优化光器件性能

一种折衷方法

正如前文介绍的一样，仅用一套测试系统无法完成所有测试，在整个光通信所用光波段内详细分析无源光器件的特性是很麻烦的，除非全波段测试系统出现。

兼顾考虑测试时间和系统复杂度这两个方面，最好的折衷方案是使用一个超宽带的可调谐扫频激光器、偏振控制器，再加上若干偏振敏感度低的光电探测器。这样搭配出来的系统，其主要特点是测试耗时少。若该仪器采用全波段可调谐激光器，配合能高速同步的探测器阵列;那么它从1260nm到1630nm仅扫描一次，就可以提供快速的、明了的测试结果。例如，测试一个8通道的CWDM器件的插入损耗，10秒钟即可完成;对于32端口的光分路器，完成插入损耗测试、偏振敏感度测试也不超过1分钟。

此外，为了给基于Mueller矩阵法的PDL测试系统提供统合适的偏振态，测试中需要使用偏振态控制器(光纤卷)，做全态PDL测量时，还需要用扰偏器。全能型全波段测试仪不需要和其他仪器切换，就可以在整个光通信波段实现多通道的IL、ORL以及PDL测试，这就大大提高了测试速度。

尽管这类仪器几乎可用于所有的无源光器件的测试，但是由于它处理的波长范围只有400nm，因此更适用于FTTx以及CWDM这类应用。图1、图2所示就是这个测试仪的测试结果。

相关标准问题

目前无源光器件的测试参照哪些标准?从技术的角度看，这主要受制于可调谐激光器和光探测器。由于FTTx和CWDM技术的演进，像国际电联(ITU)，以及国际电气协会(IEC)等国际组织目前都在致力于研究和投票表决这些新提出的标准。在更宽的波谱范围内测试IL、ORL、PDL以及其他一些重要参数，根据器件的类型，这个波谱范围可以从O波段直到U波段;而对测试的要求正在向全波段发展。

实际上，人们心目中希望的测试系统要能够用于单模光纤的整个通信"窗口"(包括O波段、E波段、S波段、C波段、L波段以及U波段)，在1260nm~1630nm范围内能测试光器件损耗以及偏振，既能测与传输相关的参数，也能测试与反射相关的参数--就是实现所谓的"全波段"测试。