思博伦被用于业界第一次对LTE芯片组的独立测试

Signals Research使用思博伦解决方案完成业界第一次对商用LTE芯片组独立进行数据性能基准测试
2012/1/4测试的结果突显出LTE强大的数据性能潜力，以及目前设备实施中存在的问题

Signals Research（SRG）已经公布业界第一次，也是惟一的一次对商用LTE芯片组独立进行数据性能基准测试的结果。尽管SRG的报告突出描述了部分芯片级实现LTE高数据速率承诺的能力，但也发现各设备间存在巨大的性能差异。

采用Spirent 8100解决方案和基于实验室的测试方法，SRG收集并分析了来自LG、Sierra Wireless、Novatel Wireless、三星和富士通的五种商用设备的数据性能，而这些设备采用了来自四家不同厂商的芯片组。

Signals Research首席执行官Michael Thelander指出：“总体而言，整个行业在过去的几年中取得了巨大的进步，使10MHz无线电信道的数据速率理论峰值从2007年的3.6Mbps提高到目前的70Mbps，而2007年正是SRG与思博伦第一次开始合作开展基准测试的时候。此外，许多过去并不提供3G基带芯片组的厂商越来越多地成为这一市场中非常活跃的基带芯片组供应商，它们的出现也令人倍感欣慰。”

尽管没有任何单一的芯片组能够在性能基准测试中占据压倒性优势，但SRG的报告总结称：

一些设备在某些条件下出现严重的问题，其性能甚至比表现最好的产品低两位百分数。
LTE对吞吐量提出的更高要求似乎正在制造不可预见的性能瓶颈，而这种情况并未出现在今天的HSPA和HSPA+芯片组中。

一些芯片组错误地报告了无线电信道的质量，这可能会导致网络资源被分配给那些无法有效使用这些信道的设备，从而对其它的网络用户造成损害。

这一轮最新的测试标志着SRG与思博伦在芯片组性能测试中的第六次合作。在此次LTE数据性能基准测试中，Spirent 8100解决方案被用于向所有芯片组施加完全相同的网络条件，自动多次重复每项测试并生成在统计上有重大意义的客观结果。

这些测试测量了各种真实网络条件下每种芯片组在应用层中的下行吞吐量和关键性能指标。这些测试场景均基于3GPP技术报告（TR）的最新规范，其中包括了各种静态条件，以及符合行业标准的步行衰减和行车衰减条件。测试中共计使用了28种LTE测试场景。

对这些LTE芯片组的性能进行的完整分析已经写入SRG的最新报告中，并且于今天正式发布。如欲了解更多信息，请访问www.signalsresearch.com。

如欲了解关于测试LTE芯片组和移动设备性能的更多信息，敬请访问http://www.spirent.cn/Devices-and-Equipment/LTE_devices