从数学计算看固态硬盘应用趋势

有关S.M.A.R.T的考虑

S.M.A.R.T （自我监测，分析和报告技术）是磁盘驱动器制造商们一个公认的标准。截至今天为止，据我所知，一些闪存厂商支持S.M.A.R.T，但由于 S.M.A.R.T是一种为磁盘驱动器而建立的标准，一些在闪存上出现的错误可能不适合S.M.A.R.T框架。当整合一个能够预测失败而确保其可靠性的 RAID装置时，任何RAID供应商必须将闪存供应商的S.M.A.R.T执行情况结合到其监测和管理的框架中。

由于对闪存的 S.M.A.R.T数据统计没有固定的标准，但是我觉得在未来这个会变得更有意义。SMART和闪存的整个区域需要在接下来的几年内设计出来，但我怀疑在大公司进入固态硬盘闪存设备市场之前，其设计是不会完成的。成本和时间，尤其是制定标准的过程使我们不太可能将其完成。如果RAID供应商们结合在一起，并迫使目前的固态硬盘供应商创造一个标准，提供对可预见的失败进行分析，这样才有可能将其在几年内设计出来。这个问题需要及时解决，以确保固态硬盘闪存在企业环境中的可靠性和可用性。

我相信固态硬盘闪存芯片是我们未来存储层次的一部分。对于解决所有的问题来说，它们太小太昂贵。我个人判断，它的成长道路和成本道路与传统的磁盘不会有太大的差别。是的，闪存设备变得越来越密集，磁盘也以不同的速度变得密集起来，但我认为，增长路径将会变得平稳。无论如何，固态硬盘闪存是我们的未来，但那些早期采用者们必须谨慎行事，认清它的问题和局限。磨损水准和监测对固态硬盘闪存芯片的可靠性至关重要，但我并不确定其涵盖了所有基准。

注：本文作者为Henry Newman，他是国外著名存储网站的负责人，在高性能计算和存储方面有27年的经验的企业顾问。