微波EDA网,见证研发工程师的成长!
首页 > 微波射频 > 微波射频行业新闻 > 安捷伦荣获Informa LTE North America奖

安捷伦荣获Informa LTE North America奖

时间:11-22 来源:mwrf 点击:

安捷伦科技(Agilent Technologies Inc.)宣布该公司LTE技术专家Moray Rumney,以其个人对LTE发展的贡献,荣获2010年Informa LTE North America奖。

Informa LTE North America奖旨在肯定及表扬LTE团体的杰出表现。在9类奖项当中涵盖了LTE标准、产品设计和网络建设、以及个人贡献奖。 LTE为3G UMTS长期演进技术,是电信业者迈向4G无线通讯时的优先选择。

Rumney表示:"很高兴因为对LTE的发展做出贡献而获奖。随着蜂巢式无线技术愈来愈复杂,本人工作中最有意义的部分,就是以简单易懂的方式,为那些需要实作该技术,或了解该技术对无线产业发展的影响和重要性的人解说这项新技术。"

Rumney在无线蜂巢式通讯产业服务已长达20年的时间。他的工作以3GPP RAN WG4的无线电标准化为主,最近还投入LTE/SAE测试联盟,协助发展LTE现场试验测试。

由于经常出席无线产业会议,他发表了许多技术论文,主持过多场网络研讨会,并参与编著《LTE和4G无线技术的演进》一书,这是安捷伦针对LTE的设计与测量挑战所出版的书籍。
 
Rumney目前的工作内容包括开发LTE MIMO使用者设备适用的天线测试方法,以及与其他的安捷伦LTE专家共同进行安捷伦第二版LTE书籍的编写,其中将会纳入4G LTE-Advanced主题。

安捷伦量科技电子测量事业群总经理张志铭表示:"Informa对我们的专家Rumney的肯定,确实突显出我们对此复杂技术的领先贡献。我们会继续努力,以提供我们的客户需要且期望的LTE测试产品。"

安捷伦3GPP LTE测试

安捷伦供应相当完备的LTE测试解决方案。除了解决LTE的基本问题和测试挑战之外,安捷伦还为需要更多深入的LTE技术资讯的朋友,提供各种相关的资源。积极参与LTE标准的发展,使安捷伦得以提供先进的产品,协助您在设计、符合性测试、制造与建置阶段测试LTE装置时拥有敏锐的洞察力。

Copyright © 2017-2020 微波EDA网 版权所有

网站地图

Top