安捷伦科技测试解决方案支持LTE标准

安捷伦科技公司日前宣布支持2009年3月发布的3GPP长期演进(LTE)标准。安捷伦的这一行动将为业界提供针对LTE TDD、LTE FDD和MIMO的更全面的测试。

Agilent LTE测试解决方案能够对LTE发射机、接收机和元器件进行设计验证与优化，并提供对检定、原型生产和制造环节的测试。现在又增加了对3GPPLTE标准2009年3月版本的支持。安捷伦紧跟最新版本LTE标准的演进步伐，提供灵活的测量、更快的测量速度和出色的性能，安捷伦的解决方案旨在加快LTE产品的设计和测试，推动下一代移动通信产品尽快上市。

安捷伦科技高级副总裁兼电子测量事业部总经理RonNersesian表示：“从2006年起，安捷伦一直在提供LTE测试设备，通过提供符合LTE标准的解决方案解决开发周期中的问题。我们与2009年3月版本的LTE标准保持一致的解决方案充分证明了我们的承诺，安捷伦将进一步帮助工程师开发和部署LTE一致性产品。”

符合3GPP LTE标准2009年3月版本的AgilentLTE测试解决方案包括：

Agilent N9080/82ALTE测量应用软件是基于AgilentX系列信号分析仪上，作为一款综合解决方案可以对上行链路(SC-FDMA)和下行链路(OFDMA)进行物理层测试。N9080/82A测量应用软件分别支持LTE FDD和LTE TDD(测试版本)。主要特性包括：

调制分析与一键式功率测量

支持E-UTRA测试模型

全部LTE带宽(1.4MHz至20MHz)

所有LTE调制类型和序列――BPSK、QPSK、16QAM和64QAM、CAZAC(Zadoff-Chu)

业界最全面的嵌入式解决方案，包括硬键/功能键和SCPI编程用户界面

N9080/82A与业界领先的高速AgilentX系列信号分析仪-AgilentMXA和EXA配合使用时，能够提供市场上最快的LTE测量，这对LTE设计验证、一致性测试和早期制造测试至关重要。

Agilent89600矢量信号分析(VSA)软件提供：

对研发过程中使用的LTEFDD和TDD信号进行全面的物理层测试和故障诊断。

TDD和FDD功能，具有MIMO分析及先进的上行链路和下行链路测试工具，支持所有LTE带宽、调制制式和序列、信号和信道。

通过在游标值上添加标题，以及按照信号类型、信道类型、MIMO层和接收信道对迹线进行颜色编码，能够更方便地跟踪在多个显示器上显示的复杂LTE信号的行为。

通过信号分析仪、示波器和逻辑分析仪，可以很容易地测量射频方框图中任何环节处的LTE信号

Agilent N7624B Signal Studio for 3GPP FDD和Agilent N7625B Signal Studio for 3GPP LTE TDD两种软件工具都具有非常强大的功能，可帮助Agilent ESG和Agilent MXG矢量信号发生器生成经过优化的标准上行链路和下行链路LTE信号。软件的波形回放模式可通过传输信道编码生成物理层LTE信号，非常适用于测量功率放大器的EVM、ACLR和CCDF，以及接收机和基带芯片组的BLER和功能特征。

当与Agilent PXB MIMO接收机测试仪结合使用时，N7624B Signal Studio for 3GPP LTE FDD软件还可生成上行链路实时LTE信号。利用被测eNB的实时反馈，该软件能够动态地控制HARQ和射频帧定时，以执行LTE规范中一致性测试所要求的闭环吞吐量测量。

Agilent System Vue中的Agilent W1910EP/ETLTE基带验证程序库可在仿真环境中提供可配置程度极高的第1层基带参考模块集。它使系统架构师、算法开发人员、硬件工程师能够生成精密的测试矢量，在从算法到硬件再到测试的整个实施过程中验证LTE信号处理模块。这使安捷伦参考IP能够进入信号处理链中，加快基带设计过程。安捷伦有望在2009年9月中旬发布支持HARQ的符合2009年3月LTE标准的产品。