CMOS探测器的射线检测应用

3应用结论及问题分析

CMOS射线探测器具有较高的空间分辨率(61p/mm，固有不清晰度<0.2 mm)，检测灵敏度高(4096灰度级)。成像质量优于采用增强器的实时成像系统，接近或达到胶片照相的水平；在图像的对比度方面优于胶片照相方法和实时成像系统。

通过试验优化等方法，成功地将探测器应用于平板焊缝、环焊缝和纵焊缝等大多数产品零部件的射线检测，提高了检测效率，降低了检测成本。为更好地促进数字化射线检测技术的应用，有必要在下列方面开展研究工作：

(1)复杂工件的最优化检测及仿真[4]，为检测结果的解释提供理论支撑。
(2)大容量图像文件的快速读取、处理及分析，缺陷定量分析的自动化、半自动化方法的研究。
(3)图像文件的管理、传输(引入PACS模式)[5]。
(4)建立新的数字化射线检测标准。