电视音频放大器—超薄系统的热测试考虑

低RDSON，这是影响效率的重要因素。

D类放大器需要更大的封装尺寸，以降低芯片与PCB或散热片之间的热阻。

制造商需要提供小的散热片或采用多层PCB，以获得较小的RθJA，RθJA是芯片与环境之间的热阻。

如果利用PCB散热，需要仔细布设大面积的连续覆铜层。这些覆铜层用于传导热量，而且需要使用多个过孔在层与层之间导热。

老化测试

有时需要更加严格的热性能*估，这种测试称为"老化测试"。老化测试采用了音频处理器所能处理的最大电压作为功放输入，从而产生类似于方波的输出。该测试中，每通道功耗高达1.41W，与AB类放大器没有任何不同。D类放大器要想通过这样的测试，与噪声测试条件相比，散热能力需要改善3.6倍。

结论

在CRT向平板电视的过渡过程中，需要更小尺寸、热耗更低的放大器，厂商基于这一需求推出了D类放大器。即使采用传统的正弦波测试方法，D类放大器的热耗也能降低2.5倍，但是，当使用噪声信号进行热分析时，热耗可进一步降低2.6倍。

当然，工程师也必须应对一个新的挑战：解决EMI问题，需要设计输出滤波器，对于小封装放大器使用裸焊盘散热。现在，我们重新考察一下测试方法，以便了解D类放大器所具备的节省成本的优势。

以下是推荐方法：

检查突发模式的输出功率，在满足THD的要求下采用满功率正弦波。

检查输入为噪声信号或最差工作条件下(语音或音乐信号)的热容量，这应该与增益设置相对应，保证即使在最大音量下，信号也不会被削波。