采用示波器捕获的电压或电流曲线中的参数(参见表1)，可以得出：
其中，IPP为电流峰值，R为负载阻抗。
注意：上述公式适用于0 dB(正常)输入，不适用于发生削波(THS+N为10％)时的情况。
在相同的测试条件下，计算结果与采用AP捕获的功率测量值相关。在给定的负载阻抗下，AP利用高精度仪表可以捕获Vrms值，然后用AP Win-dowsTM软件将处理而得的功率值绘制成图形。
Texas Instruments还提供具有数字增益控制功能的RMS功率测量方式，使THD+N≤10％。利用TI公司的TAS5508或TAS5086型调制器，可以实现数字增益。THD+N为10％时的平均功率要高于正常FTC的THD+N<1％时的额定功率。表2列出了THD+N为10％时的平均功率。
3.2 峰值功率
测试步骤如下：
1) 将PVDD电压(MOSFET电压)设置为各器件数据资料中所规定的工作电压典型值。
2) 用AP产生一个0 dBFS的连续1 kHz正弦波。
3) 负载阻抗取各器件数据资料中规定的典型值。
4) 调制器增益设置为0 dB。
5) 用电流探头捕获输出电流的波形。
6) 用电压探头捕获输出电压的波形。
测量负载阻抗上的最大电流或最大电压，算出峰值功率。根据功率计算公式，又可推导出以下的峰值功率计算公式：
采用示波器捕获的电压或电流曲线中的参数(参见表3)：
其中，IPP为峰峰电流，R为负载电阻。需要说明的是TI在数据资料中未公布PurePath Digital功率级器件的峰值功率。
3.3 瞬时峰值功率
测试步骤：
1) 将PVDD电压(MOSFET电压)设置为各器件数据资料中所规定的工作电压典型值，例如：TAS5142=34 V；TAS5152=37 V；TAS5186=39 V。
2) 用AP产生0 dBFS的1 kHz正弦波。
3) 阻性负载取不同的阻值，并按照以下步骤确定器件关断之前的最低负载值。
4) 在器件自身不发生关断之前，把器件的数字增益设置到最大，该步骤与上一步骤一起执行。调节增益直到示波器捕获一个完整的正弦波。
5) 用电流探头捕获电阻上的峰峰值电流波形。
6) 用电压探头捕获峰峰值电压波形。
同样在TI的数据资料中也没有给出PurePathDigital功率级器件的瞬时峰值功率。可以看出，瞬时峰值功率无任何标准。瞬时峰值功率主要取决于系统和测试装置架构。
4 结束语
Texas Instruments(TI)的PurePath Digital音频器件性能卓越。TI一直为提高产品的标准和集成度而努力，其中包括为用户提供全面的支持文档如数据资料、应用笔记等等。在测试TI功率级器件时采用正确的工程技术，可以获得精确的测量结果。资料中提供的音频性能是通过AP测试设备采集的。所获得的性能参数(包括额定功率)都是可通过TI评估板追溯和再次验证的。所有功率级器件数据资料中的额定功率都指的是能连续提供的平均功率。
FTC规定了美国市场产品的额定功率，其他国家不受此要求限制。因此，TI客户可以为其产品自由选择顾客接受的额定功率。
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