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采用开关器件提高PFC效率

时间:06-23 来源:电子系统设计 点击:
在CCM PFC中,通过改善MOSFET技术可以减少开关损耗,甚至可通过SiC技术改善升压二极管来减少MOSFET的开关损耗。

  功率因数是一个数值参数,常用来衡量提供给交-直流变换器的输入功率的质量。最近功率因数补偿(PFC)的标准,如IEC 61000-4-3,已经大规模应用到许多系统当中,并且在交-直流电力系统市场中表现出增长态势。为了能够达到这些标准,设计人员可以运用被动式与主动式PFC设计技术,这种设计技术必须符合电力系统中的电网谐波标准。

  方法之一就是运用被动PFC的低成本解决方案,但是这一方案需要一个笨重的大体积LC滤波器。主动PFC广泛用于减少系统滤波器电感线圈的尺寸与重量。因此,增加效率与功率密度是主动PFC方案的关键设计因素。对于大功率交-直流变换器来说,连续传导模式(CCM)升压型主动PFC拓扑结构更受欢迎。与非连续传导模式(DCM)和临界传导模式CRM)不同的是,CCM PFC产生的波纹电流更小,可简化EMI滤波器设计以及保持小负荷下的稳定性。因此CCM PFC不仅广泛用于服务器与远程通信的电源供给,而且可用于平面显示器的电源供给。

  按照功率变换器PFC改善功率密度的设计趋势,设计人员必须减少系统损耗与整个系统的尺寸、重量,或者增加开关频率,集成有源元件。

  一种新型的MOSFET/二极管组合可以实现较高的功效,减少开关损耗。并且通过降低MOSFET的导通电阻,提高其开关速度完成CCM PFC控制器的设计。上述性能的改善,都离不开一种具有低反向恢复电荷(QRR)的SiC肖特基二极管。下面在一个400W CCM PFC应用当中,将其与常用的硅Si二极管/平面型MOSFET的组合方式进行比较,可看出本文所述MOSFET/二极管组合的优点。

  与DCM升压电感的恒流相比,CCM下的PFC具备更多优势。通过EMI滤波的电流要比DCM或CRM中小得多,因此这些优势在大功率设计中更为明显。在一般情况下,MOSFET的功率损耗通常由它的开关损耗决定,事实上开关损耗是由分立升压二极管的反向回缩特性所引起的,而上述这个根源取决于工作电流与二极管温度。这些因素导致了二极管与MOSFET功率损耗的增加,进而影响到变流器的性能。

  图1与图2所示为CCM PFC的工作情况,包括电流和电压波形,可看出低QRR对PFC二极管的重要性。一开始,二极管D1引入输入电流,同时还有二极管中的少量积累电荷。在开关导通的过程中,MOSFET M1导通,二极管D1关断。巨大的导通电流流过MOSFET,除了经整流的输入电流以外还包括D1的反向恢复电流与放电电流。一般情况下,电流的变化率通过M1的封装电感及其他存在于外部回路的寄生电感进行限制。二极管电流波形的负值区域便是反向恢复电荷QRR,其中时间间隔长度(t0到t2)是反向恢复时间tRR。在t0与t1之间时,二极管保持正向偏置,因此MOSFET电压为VOUT+VF。在t1时间,p-n结附近的积累电荷被耗尽。二极管反向电流持续存在,直至消除所有残留的少量积累电荷。在t2时间,这些电流基本上为零,二极管在反向偏置条件下达到稳态。[1]这些由硅Si二极管反向恢复特性所引起功率损耗,限制了CCM PFC的功效与开关频率。


  CCM PFC中最值得关注的是减少MOSFET与升压二极管的传导性与开关损耗。如果您想设计一高性能的、且具有较小尺寸与较高的工作频率的CCM PFC,其MOSFET要求如下:较小的导通电阻以减少传导损耗;低CGD以减少开关损耗;低QG以减少栅极驱动功率;低热阻。同样,升压二极管要求如下:tRR时间短以减少MOSFET导通损耗;低QRR以减少二极管开关损耗;小VF以减少传导损耗;温和的反向回缩特性以减少EMI;低热阻。

  MOSFET比较

  图3所示为Fairchild Semiconductor(飞兆半导体)公司的SuperFET 600-V MOSFET的横截面,它运用了电荷平衡技术(右),另一个是传统的平面型MOSFET(左)。一开始便引起我们注意的差异是SuperFET元器件内部的加厚p型柱。SuperFET所提供的低导通电阻所起的作用(>90%)在于N-型漂移区。加厚P型柱的作用是限制MOSFET轻掺杂外延区的电场。相比传统的平面MOSFET,n-型外延层的电阻率急剧减少,同时保持击穿电压不变。高压MOSFET的导通电阻降低后,可比传统的


MOSFET的开关特性随着它的寄生电容的改变而改变。例如高压SuperFET有源面积的减小直接导致输入电容的减小,因此减少了栅极电荷。这导致导通延迟时间变短,需要的驱动功率变校当我们比较SuperFET与平面MOSFET的电容时,VDS一接近10V(对SuperFET来说)CGD的值急速地减小,在导通的开关瞬态,较小的输出电容可减小放电损耗。因为这项技术的目的是使元件能够承受住高速开关瞬态下的

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