新型的嵌入式存储器测试算法

步测试数据线是否存在开路故障和固定逻辑故障，第二步测试数据线是否存在短路故障，第三步测试地址线是否存在开路或短路故障。在第二步测试结束时进行数据线故障诊断，在第三步测试结束时进行地址线故障诊断。
3．2 内部存储单元测试算法
内部单元的测试算法有Checkboard测试、MSCAN算法、March算法、GALPAT、跨步法等算法，本文对内部存储器单元进行测试，采用如图2所示的棋盘和跨步相结合的算法，在检测数据单元时采用棋盘图形，在检测地址译码时采用跨步图形，将棋盘测试法和跨步法各自的优点合二为一。

4 测试结果
将本文所涉及的算法进行测试效率与故障覆盖率的分析，并将结果进行比较，如表2所列。其中d为地址线数目，n为数据线数目，M为待测存储器空间大小，一般M=2d。从表中可以看出这些算法的测试效率比典型的March算法效率高很多，三步法的测试复杂度只有4(n+d+1)，棋盘跨步相结合的算法的测试复杂度也有5M，在故障覆盖率也满足应用要求，完全可以为实际项目所采用。