中规模集成电路功能测试仪的设计
时间:04-01
来源:互联网
点击:
2 操作和软件结构
测试仪的基本工作流程是:接通电源后,电源指示灯亮,表明电源工作正常,显示器显示等待测试信息,表明可以开始测试操作。由按键1选择所要测试的芯片,显示光标停留的芯片型号表示是当前待测芯片。每按1次选择键,光标指向下一个型号,不断地按键可以循环选择。当光标移到所要测试的芯片时,按下确定键2,接下来由单片机控制,开始自动测试该芯片,此时对应该芯片的指示灯亮;然后由外部电路或单片机给待测芯片一定的模拟或数字输入量,经过每个芯片的测试电路后,通过MAX197进行处理(或直接送到单片机),与单片机中预存的标准值进行比较。如果测试值在标准值附近的一定范围内,则芯片正常,测试指示灯常亮,液晶显示器显示OK;否则,芯片出错,测试指示灯闪烁,液晶显示器显示BAD。此芯片测试完毕,按下复位键3,即回到初始状态,可以进行下一轮测试。软件流程图如图7所示。
实验样机经老师、学生使用,测试效果非常理想,测试准确率可达90%以上,给教学提供了方便。
- 采用模块化仪器,对新兴音频和视频应用进行测试(02-19)
- PXI射频模块仪表在手机生产测试上的应用(06-23)
- 基于NI数采模块的测井数据采集控制系统设计(11-18)
- 具有负时间常数的DPGA条件信号(11-25)
- Multicom(多无线模块)产品无线测试的挑战(11-26)
- 低频微弱信号的模拟预处理(02-02)