基于虚拟仪器的多通道数据分析系统设计

在以往的测试系统中，一般采用引线式测试法实现信号的同步采集、显示与分析，但在武器系统参数测试装置所工作的高温、高冲击、高压的恶劣环境中，引线式测试法布线复杂，干扰大，采集系统与信号分析系统的实时连通极为困难，而且在测试结束回收过程中，一旦系统意外掉电，则测试数据丢失，导致测试失败[1]。引线式测试法在解决此类问题时遇到了功能上的瓶颈。为解决此类情况，存储式测试法作为一种新的测试方法被提出，即把数据采集与分析系统分割为两个相互独立的子系统，测试时利用存储测试技术，将传感器与记录电路做成一个整体，直接放到待测环境中对相关参数进行测试并存储。测试结束后由专用数据分析系统对测试数据进行后期分析与处理[2]。随着计算机技术的发展，使用虚拟仪器对数据分析处理不仅高效准确，而且很大程度地降低了成本。虚拟仪器技术已经成为现代测试技术的一个重要发展趋势。本文中设计了一种基于虚拟仪器的低成本、高精度、可扩展的多通道数据分析系统。
1 系统整体设计方案
多通道数据分析系统的结构框图如图1所示。

1.1 系统硬件结构
本系统的硬件结构为基于Nandflash技术的存储测试子系统。Nandflash是一种非易失性存储器，具有体积小、功耗小、读写速度快等优点。本文采用三星公司的Nandflash芯片K9F4GOSUOA作为主要存储器件，控制器件使用ATMEL公司的ATmegal62和Xi1inx公司CoolRunner-II系列XC2C256，结合对Nandflash的读、写、擦除等操作进行时序配置。A/D芯片使用Maxim公司的MAX1308。另外为实现通过USB总线将数据从采集设备传送至PC，采用FTDI公司的FT245R芯片作为USB2.0接口控制器。
存储测试子系统共分为两个模块：(1)数据采集模块,将采集的高速数据流，通过AVR和CPLD的控制，实时地保存到Nandflash中;(2)数据传输和存储模块,将己保存到Nandflash中的数据, 通过AVR、CPLD和USB专用芯片进行控制，经由USB总线传送至PC，以便后续处理[3]。
1.2 系统软件结构
LabVIEW(Laboratory Virtual Instrument Engineering Workbench)是一种图形化的编程语言和开发环境。系统的软件部分是以LabVIEW为平台开发设计的多通道数据分析子系统，其功能主要是对存储测试子系统中存储的测试数据进行后期分析与处理。
2 多通道数据分析系统的软件实现
系统软件部分主要用来实现读取存储的测试数据文件，将数据还原成波形，并对波形进行一系列的分析与处理。在功能上由数据定点定长读取、数据波形还原与显示、波形参数测量、滤波处理、频谱分析与打印组成。
2.1 软件前面板的设计
前面板是软件与用户间进行交流的窗口，通过这个友好的界面，用户根据规定的操作规程，可以实现对软件的控制，进而获取理想的数据结果。根据功能需要，前面板上共设置了数据读取、波形显示、波形控制、滤波处理、频谱分析、参数测量、打印等窗口或旋钮。
2.2 软件各模块的实现方法
2.2.1 测量数据定点、定长读取
测量数据定点、定长读取可有效解决单次读取海量数据造成的时耗过长问题，还可以在海量数据中对自己感兴趣的区域进行快速定位，有选择地读取，从而方便了对测量数据中敏感区域的分析与处理。该模块通过“起始位置”与“读取点数”的组合控制操作，实现了数据的定点定长读取，其程序图如图2所示。

2.2.2 测量数据波形还原与显示
该模块主要用于还原测量数据的波形，并实现对波形的控制。该部分通过一个5帧数字CASE结构实现了通道A、通道B、通道C、通道D、全选通等5种多通道工作模式。
波形显示窗口在设计过程中将5个“波形图”控件透明化处理后与20×10的背景方格叠加，分别完成游标和四通道波形的显示功能。该设计方案解决了以往类似软件中存在的当多通道波形同时显示时，不能独立控制单通道波形的难题。各通道分别由一组“沿Y轴平移”与“幅基控制”旋钮控制；而所有通道的“沿X轴平移”与“时基控制”则由同一组旋钮控制[4]。其程序图如图3、图4所示。

2.2.3 波形参数测量
该模块主要用来测量波形的基本时域参数，主要分为宏观参数测量和游标测量两部分。宏观测量是对读取的定长数据进行运算，获取其信号时域参数。游标测量可以用来对波形中感兴趣的点或区域进行测量，获得该区域信号的时域参数[5]。
2.2.4 滤波处理
滤波处理主要用来对读取的定长数据波形进行滤波操作。该部分调用了LabVIEW中的Butterworth滤波器、Chebshev滤波器、反Chebshev滤波器、椭圆滤波器、贝塞尔滤波器等函数单元，实现了低通滤波、高通滤波、带通滤波、带阻滤波等4种滤波功能，通过设置高截止频率、低截止频率、阶数和衰减等参数达到滤波目的。