微波EDA网,见证研发工程师的成长!
首页 > 测试测量 > 测试测量技术文库 > 基于BIT技术的装备控制系统故障诊断

基于BIT技术的装备控制系统故障诊断

时间:11-28 来源:互联网 点击:

小割集为{B1}、{B2}、{B3}、{B4,B5}。

形成关系知识的规则

根据A/D板的最小割集和结元器件端电压异常,用关系知识的规则步骤分析可得A/D板故障的规则如下:

Rule1 IF A/D板故障且B1端电压异常 Then B1坏;

Rule2 IF A/D板故障且B2端电压异常 Then B2坏;

Rule3 IF A/D板故障且B3端电压异常 Then B3坏;

Rule4 IF A/D板故障且B4端电压异常 Then B4坏;

Rule5 IF A/D板故障且B5端电压异常 Then B5坏。

从上面的规则建立过程可以得出,该方法将故障树分析法与专家系统有机结合,使得知识工程师、领域专家、使用维修人员之间的交流与合作更加容易,消除建立知识库的盲目性,确保了诊断知识的一致性和完备性、高可靠性;将数值计算过程和符号决策过程结合在一起,集成了多种形式的知识,有助于实现诊断的自动化和诊断结果更准确可靠。因此,建立合理的装备控制系统故障树,将故障树转化为关系知识,这一过程是导出专家系统关系规则(诊断知识)的有效途径。

结语

将BIT用于装备控制系统,有效地避免异常的发生,提高控制系统运行的可靠性。BIT技术简化了装备控制系统地面测试时需要将设备上所有被测信号通过众多的测试电缆引到地面来检测的繁琐,同时使地面测试设备变得不再庞大、复杂,缩短了装备测试前的准备工作时间,满足了操作人员对装备快速响应的要求。

Copyright © 2017-2020 微波EDA网 版权所有

网站地图

Top