泰克预期对USB 3.0产品的需求在未来将不断增加

最高速度扩大到5Gbps的USB3.0自完成标准制定以来，对应产品不断出现，但主要集中在闪存盘和移动硬盘等存储类Device产品。笔者从“泰克2011年春季创新论坛”上获悉，已发布两年的USB3.0在中国受到开发者热捧，并且泰克的高速串行专家及合作伙伴表示，随着不久之后Intel和AMD将其集成到主板(芯片组)中，USB3.0市场的爆发期在2012年也随之到来，因为主板集成USB3.0后必将极大推动Host产品的大量涌现，这样才能真正引爆USB3.0市场。

“作为USB测试行业的领导者和USB3.0标准组织的唯一测试测量技术贡献者，泰克预期市场对USB 3.0产品的需求将在未来几个季度不断增加。”泰克公司大中华区市场开发经理张天生先生表示，“从事高速串行数据设计的工程师需要快速跟进，以便及时抓住涌现的市场机会。业界先进、完整的测试解决方案和咨询服务可帮助工程师克服USB3.0设计挑战和产品上市时间压力。

接收机物理层测试成为必须，BERTScope帮助应对闭合眼图

今年泰克春季创新论坛的一个重要演讲者就是Sarah Boen女士。她目前担任泰克技术解决方案的市场经理，被称为“泰克HSS技术权威”。在会上，Sarah分享了USB3.0测试的关键考虑事项：

1.接收机测试成为必须，包括抖动容限、可能导致互操作问题的SSC、异步参考时钟。

2.通道方面的问题，需要考虑发送线路效应，对于较早期的设计，还必须进行软件通道的仿真。

3.另外出现一些新的挑战，如12”长的Host通道，接收机闭合的眼图，均衡，发射机预加重和接收机的连续时间线性均衡器(CTLE)。

4.链路层：均衡、链路协商(Link Training)、加扰/极性转换、低功耗状态机等。

图1：USB3.0测试：发射、通道(线缆)、接收机，一个都不能少。

Sarah指出，在信号速度低于2.5Gbps时，完成发射机的测试基本就可以了，但对于速度超过2.5Gbps的超高速接口应用如5Gbps USB3.0，接收机测试就变得举足轻重，因为即使发射机信号质量不错，但经过长的传输通道后会受到很大影响，导致信号在接收机的眼图是闭合的，快速的信号速率也会导致接收机错误地中断输入数据，造成系统错误。因此单纯的发射机一致性测试不足以确保整个系统的误码率要求。

如USB2.0应用一样，泰克为USB3.0的发射机测试提供了超过规范要求的完整解决方案(手动和自动可选)。对于复杂得多的接收机测试，泰克则展示了最新的BERTScope解决方案，可帮助开发者加快USB3.0的一致性测试速度。

BERTScope系列产品顾名思义，就是融合了误码率测试仪(BERT)和示波器(Scope)的优点于一身的高性能、高度集成、易于操作高速串行系统的测量、验证和调试工具，完全能代替传统的BERT完成误码率测试，并且还能实现眼图分析、抖动分析等高性能示波器所能实现的指标测试。不仅能对Tx端信号进行抖动分析、误码相关性分析，还可以根据规范的要求，进行Rx端抖动、幅度容限测试。对于BERTScope系列测试方案之外的其他相近的方案来说，要实现相同的测量通常需要三、四台不同的仪器组合才能实现。所以，从整体解决方案的角度而言，BERTScope大大降低了整体测试方案的成本，同时避免了多台仪器组合使用中复杂的连接和校准问题，极大地提高了测试效率和精确度。

图2：泰克BERTScope接收机测试方案的配置情况。

Sarah介绍了BERTScope USB3.0接收机测试解决方案的配置情况。如图2所示，时钟恢复模块CR125A、数字预加重模块DPP125B与BERTScope 85C误码率分析仪相结合，并配上夹具和线缆(泰克的USB3.0夹具可同时支持发射、接收机及线缆的测试)，主要提供了4大功能：

1.压力模式发生/注入：随机抖动(RJ)、正弦抖动SJ、扩频时钟(SSC)、预加重，并且是可编程的，轻松实现调试和特征化。

2.环回模式设置：自动化软件可实现一次点击就完成环回模式设置。

3.抖动容限测试：无缝处理时钟补偿特性(SKP)以实现准确的误码率测量;标准符合测试和搜索模式能帮助找到设备的Pass/Fail点。

4.自动化软件：更多接收机测试的自动化软件、报告生成、轻松找回和管理以往的测试

本次泰克春季创新论坛就邀请了亚太区一家知名的授权认证实验室——百佳泰(Allion)为大家分享USB3.0认证测试的注意要点，并且他们也可提供USB2.0/3.0测试服务(所有USB3.0产品都必须通过USB2.0标准符合的测试)。百佳泰于台湾、日本、中国、韩国和北美等地设有实验室，为各地的IT开发商提供当地的多样化服务。去年8月，百佳泰于深圳设立新实验室，测试服务涵盖USB、HDMI、DisplayPort、SATA等标准认证、以及独家开发的固态硬盘(SSD)测试方案，和全球