隔离式ADC架构利用分流电阻进行三相电能计量
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图4. 新型ADC架构包括双通道ADC、数据隔离和一个隔离式DC-DC转换器
信息利用极高频PWM脉冲传输到隔离栅另一侧。由此产生的高频电流会在电路板中传播,引起边沿和偶极子辐射。隔离式DC-DC转换器的负载仅由sigma-delta ADC的第一级构成,其幅度是已知的。因此,线圈是针对已知负载进行设计,从而可以降低一般与DC-DC转换器相关的辐射,并且无需四层电路板。使用这种架构的IC时,电表制造商可以使用两层电路板,并通过所需的CISPR 22 Class B标准。
为使与MCU的接口尽可能简单,芯片的数字模块对来自第一级的位流进行滤波,并通过简单的从机SPI串行端口提供24位ADC输出。电表每一相都有一个隔离式ADC,因此获得一致ADC输出的挑战仍未解决。如果采用同一时钟工作,则所有相上的ADC第一级可以在同一时刻采样。如果图4中的CLKIN信号产生自MCU,则这很容易实现。另一个方案是使用一个晶振为一个芯片产生时钟,然后利用缓冲CLKOUT信号为所有其它隔离式ADC提供时钟。控制所有隔离式ADC以在同一时刻产生ADC输出。现在,电表就能利用分流电阻检测电流,执行精确、全面的三相分析。
图5显示一款采用三个隔离式ADC的三相电表。该电表仅有一个电源为MCU和隔离式ADC供电。MCU利用SPI接口从各IC读取ADC输出。
图5. 采用新型隔离式ADC的三相电表
图6. 采用新型隔离式ADC和计量IC的三相电表
此架构已被ADI公司的一系列新产品采用:ADE7913、ADE7912、ADE7933和ADE7932。图7显示了ADE7913的框图。它与图4非常相似,但有一个额外ADC通道用于检测与温度传感器复用的辅助电压。该辅助电压可以是断路器上的电压,温度传感器可用于校正分流电阻的温度变化。ADE7912是一个变体,无辅助电压测量功能,但有温度传感器。
ADE7933和ADE7932将SPI接口替换为位流接口,其余特性分别与ADE7913和ADE7912相同。它们就是图6所示的隔离式ADC。图中的计量IC已通过ADE7978实现。
图7. 基于此架构的新型ADE7913隔离式ADC
本文说明了一种新型隔离式ADC架构。它包含一个isoPower隔离式DC-DC转换器,利用MCU电源为隔离栅另一侧的多通道sigma delta ADC第一级供电。ADC输出的位流经过iCoupler数据隔离器,由数字模块接收。此模块对其进行滤波,产生24位ADC输出,可利用简单的SPI接口读取。一个ADC可以测量经过一个分流电阻的电流,第二个ADC可以利用分压器测量相至零线电压,第三个ADC可以测量辅助电压或温度传感器。它支持三相电表使用分流电阻,确保完全不受直流和交流磁场干扰,执行电流检测时不会产生任何相移,同时可降低系统总成本。小尺寸解决方案确保电路板非常小,只需安装非常少的器件。集成式isoPower芯片级变压器针对已知ADC负载而设计,辐射降至最低,并通过测试,利用两层电路板即可达到CISPR 22 Class B标准。
当然,使用分流电阻的电流检测并不局限于电能计量应用,电能质量监控、太阳能逆变器、过程监控和保护设备均可受益于这种新型ADC架构。
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