基于Labview软件的ADC计算机辅助测试系统设计

试这样精度的芯片，我们需要输入更高精度的模拟电压。因此除了对测试方法的选取要求较高外，也对测试系统的构成和测试板的设计与制作提出了很高的要求。

图2为ADC测试平台结构。该系统的工作原理是：由正弦波发生器产生一幅度略大于ADC满幅度输入范围的正弦波，作为模拟信号输入到ADC测试板，经滤波后输入到ADC输入端，ADC将其转换为相应的数字输出至数字采集卡，采集卡将其组合成数字码，然后用分析软件进行分析，给出测试结果。

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本系统利用Labview的虚拟仪器实现对数据采集卡的数据采样控制，以及对采集到的数据进行分析处理。在控制数字采集卡的程序中，应设置为外时钟采样以及有限次采样模式，以实现信号的一致性采样，以及保证采集卡采样与ADC同步;在对采集到的数据进行分析处理时，考虑到系统需分析处理二种不同的测试方法，因此在将数字采集卡采集到的数字转化为U16标准数字格式后，输入到一个case结构程序框中，通过在前面板选择不同的测试模式，可以很容易的满足了测试软件对不同特性参数的测试要求。图3左为码密度测试软件的窗口，右为FFT测试软件窗口。它包含了采集卡和ADC的控制设置以及输出参数显示等功能区域。

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1.4 测试结果

利用上述测试系统，对CMOS图像传感器中的8Msps 10位ADC进行了性能测试，测试结果如表2所示。

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测试结果表明，此系统可有效测出ADC的各项性能参数。

2 结论

本文以CMOS图像传感器集成流水线型ADC为测试实例，以LABview为软件，搭建了一套能综合测试ADC静态和动态性能的测试系统，该系统具有测试过程操作简单、测试参数较全面及硬件成本小等特点，并通过对自主设计的ADC进行测试，结果表明该系统可较准确的表征ADC的性能。