利用ATE集成解决方案应对下一代芯片测试平台需求

能需要的组合仍然阻碍着数字测试系统单芯片实现方案的出现。不过依靠先进的ASIC设计技术和创新时序基准结构，单一一块ASIC设计已能够解决当今ATE对性能和功能的广泛需求。这里所介绍的Omni结构是实现高集成度和低成本ATE的一个重大进步，Omni集成了数字、存储器以及SoC芯片测试所需的一整套测试仪器件模块。时序基准的游标尺结构提供了一个低功耗和标准CMOS解决方案，而且不会牺牲精度。Omni芯片已被成功应用到科利登Kalos2存储器测试系统和Sapphire D-10低成本多site芯片测试平台上。