设计新一代自动化测试系统

能中，一些与待测设备（DUT）相关的，而另一些对于每个待测设备是通用的。为了把维护费用降至最小，并且保证测试系统的寿命，实现DUT级别的任务与系统级别的任务相分离的测试策略是十分重要的，这样工程师们在整个开发周期中可以迅速地重用、维护并修改测试程序（或者模块）来满足特定的测试需求。

在所有的测试系统中，都存在着根据待测设备不同的不同操作，也存在着对于所有待测设备都通用的操作，例如系统级别的任务等。

对于每个设备不同的操作

? 仪器配置
? 测量
? 数据采集
? 结果分析
? 校准
? 测试模块

对于每个设备通用的操作

? 操作界面
? 用户管理
? DUT跟踪
? 测试流程控制
? 存储结果
? 测试报告

一些公司已经编写了自己的测试执行器，并且分配了宝贵的工程资源来从头开始开发测试管理软件。这通常会导致生产率下降并且为了维护软件而长时间占用资源。为了使生产效率达到最大化，工程团队应该利用商业上可用的测试管理软件，例如NI TestStand软件等，来减少对于每个设备的通用操作的开发。通过利用这个软件，工程师们可以专注于对各设备的专有操作的开发。需要更多信息，请查阅《Developing a Modular Software Architecture》白皮书。

结构层次四：应用开发软件

在测试系统结构中，应用开发环境（ADE），例如NI公司的Labview和LabWindows/CVI等，扮演了关键角色。利用这些工具，测试系统开发者可以与各种各样的仪器通信、集成测量、显示信息、与其它应用连接等等……理想的用于开发测试和测量应用的ADE需要提供易用性、高效编译性能、与多种I/O集成以及编程灵活性等一系列的应用要求。易用性不仅在于可以多么迅速地上手和使用。利用易于使用的ADE ，开发者可以容易地把处理例程和多种测量设备集成在一起，创建复杂的用户接口，部署和维护应用程序，并且在产品设计改良和系统需要扩展时修改应用程序。

如需更多信息，请查阅《Choosing the Right Software Application Development Environment》白皮书。

结构层次三：测量和控制服务

测量和控制服务提供了对系统中各种硬件资源的连接、系统配置和诊断工具等，至关重要。例如，NI Measurement and Automation Explorer (MAX)可以对硬件资源进行自动检测，包括数据采集、信号调节硬件；GPIB、USB和局域网控制型仪器；PXI系统、VXI设备；模块化仪器……，因此开发者可以在一个地方对它们进行配置。集成诊断测试保证了设备功能正常，而测试面板为开发者在开始编程前检查硬件的功能提供了快捷的方法。测量和控制服务还通过应用编程接口（API）提供了对应用开发软件层的集成，这样开发者可以容易的对他们的设备进行编程。