如何判定4~20mA器件的电流范围?
大约30年前,有人告诉我他有一个4~20mA的电流源。他想判断电流是否超出范围,或者电线是否已断掉!但是没有人知道该如何检测这一点。如果你想接受一项艰巨挑战的话,只需要告诉我,这是一个模拟功能,而且没人知道该如何来进行检测。因此我开始设想,如何才能判断4.0mA电流是否下降到了3.70mA或更低呢?要是我们能够断定这一点该多好,那样就能够说明这是一个非法的状态。
我决定采用Bob Widlar的新型LM10,该器件整合了一个电压基准和一个功率放大器。当然我会构建一个有效的电路,在电流过小的时候检测和发送错误信息。后来我经过绘制电路图和反复修改,构建了一个有用的电路。客户也认为这个电路有用。
由于我们知道,有一本仪器和工业杂志的读者经常使用“4~20mA”器件,因此我还将这个电路作为一种“设计思路”向该杂志投了稿。因此这本杂志发表了这个电路。大约三个月后,我们收到了一封令人愉快的来信,读者对这个小电路展现出了这份杂志从未经历过的前所未有的兴趣。嗯,我猜是这样。
现在,LM10仍在生产和销售,不过价格却高达2.30美元,比起这样一种简单功能的实际价值,这个价格显然有点高。当我们拿到价格比较便宜(批量单价为37美分)的LM4041-ADJ时,我在想,“这个器件应该也能做到这一点”。 LM4041-ADJ具有一个小增益级和一个1.2V的电压参考,因此它可以实现这些功能(请参见图)。
图中的LM4041-ADJ可用来实现电流判断功能。
主要规格
4N28的增益相当普通(0.1至0.3),但是它能够产生一个在下降到接近于“地电位”时能被检出的小标志。LM4041-ADJ可以通过332Ω电阻检测出4.0mA的电流,然后导通4N28。如果该电流降至3.7mA以下,LM4041就会关断光耦。即使是一个简单的电路也可以实现非常有用的功能。你没有必要去找一本30年的杂志。
如果你想检查这个电路开关和检测的实际电平,你可能要将一个小三角波测试仪放在高于和低于3.7mA的已校准电流中。如果输出占空比正好是50%,你就会发现阈值是正确的。如果想获得优于2%的精度,可以进行微调。
我曾经在Teledyne公司工作过,如果你懂希腊语,你会发现Teledyne的意思是“距离和力”。 甚至在与高于或低于地电势几百伏的电压相隔离的情况下,这个电路也可以产生一个较小的力。没有电的连接。因此隔离并不会造成精度低或者费用高。
什么时候需要测试长期稳定性?
几年以前,有一个朋友打电话问我有关一款新型NSC放大器的问题:“您有关于这款运算放大器长期稳定性的数据吗?”我甚至没有查看资料就告诉他,我们确实没有这方面的数据。这只是一款相当新的普通的运算放大器,并没有想要成为低偏置或低漂移领域的技术领先者。因此,不是我们吹牛,这种器件没有任何风险。不过客户却并不满意。
“为什么你们没有关于这方面的完整信息呢?”我试着解释道,我们没有余力收集每种小产品的这类数据,没有余力收集和分析数据,也承受不起为此而延误产品上市的责任。即使我们马上发布这些数据,然后再更新数据手册,用户如果看了最初的数据手册还是会问这个同样的问题。
进行正确的研究所需要的人力、工程量和技术人员工作量将非常大。很少有客户有如此迫切的要求,值得我们去收集这样的数据。一般情况下,如果我们采用这种工艺在以前的电路上获得了比较好的数据,那么变化就相当小,例如布线或电流大小的微小变化,或者输出级的变化,这里,我们假设新器件将与旧器件非常相似。
现在,我们进行一项小的漂移测试,目的只是为了确保不会出什么问题。例如,我们将加载三块电路板,每块板有30个器件,目的是看看电路板是否达到预期的性能。我们将比较高温工作前后1000小时的数据。我们可以将其中一块电路板放到烤箱中,然后收集2000小时的数据。但是这种测试一般都是一个无聊的过场。当我们做完所有的操作后,也没有什么值得夸耀的。除了“合格”之外,没有什么可以写到报告中的。
打电话询问的客人仍然不满意。“好的,那么我会仔细查一下,问问你们的竞争对手他们的长期漂移是多少,”他说道。这样我就回复,“请便”,然后开始告诉他我们的一些竞争对手的电话号码。不过我后来停顿了一下,告诉他:“但他们将会告诉你同样的故事。他们也没有余力对推出的每一个良好的电路进行精确的寿命测试。”
我们在什么情况下需要进行大量的测试和数据记录呢?当我们采用一种新工艺或者新电路,并且这种工艺或电路有望提供优越的性能时。新型低漂移运算放大器?当然。当几年前国家半导体推出新型斩波稳定放大器时,我们进行了所有类型的寿命测
- 怎么判定笔记本电池的好坏(07-10)
- IGBT器件的大功率DC/DC电源并联技术研究(12-09)
- eGaN FET与硅器件比拼之低功率无线电源转换器(12-09)
- 浅谈国内几家保护器件供应商以及他们的优势特点(12-09)
- 常用IGBT及MOSFET器件隔离驱动技术汇总(12-09)
- 小器件大乾坤 电容寿命的计算方法(12-08)