微波EDA网,见证研发工程师的成长!
首页 > 微波射频 > 电磁兼容(EMC) > EMC 的预测试技术是保证产品质量不可少的手段

EMC 的预测试技术是保证产品质量不可少的手段

时间:12-22 来源:互联网 点击:


图5 (a) 电磁故障诊断系统测量配置示意图;

(b)为诊断屏蔽壳体上不应有的孔隙部位测量示意

     近场探头套所包含的探头11941A的测量频段为9kHz-30MHz,11940A的测量频段为30MHz~1MHz,它们都采用双环设计。探头的两个环天线在平衡/不平衡变换器(简称“巴仑”)合并变为不平衡输出(同轴线采用双环可使它们的电场感应电压分量反相,相互抵消,只保留磁场感应电压分量)。理论分析明在近场探测情况下,电场探头(如单极或偶极振子)不可避免或容性耦合周围的杂散信号,难实现可重复的测量,而环天线的磁场探头有很好的测量可重复性,并可抑制感应的电场,所以本系统采用这种双环结构的磁场探头。

    为了进行敏感度测量,可采用E7402A分析仪配置的选件跟踪发生器(1DS),内置在EHC分析仪中。由于跟踪发生器与测量接收机做成一体,两者的频率保持同步,这比采用单独的扫捅要方便得多,尤其在滤波器传输特性的测量中可大大缩短测量时间。

    每个近场探头均用网络分析仪校准,每个探头在其频段的5个频率点测校正系数(dB(uA/m)/uV),将接收机读数(dB uv)加上此校正系数就得出所测的磁磁场强度(dB(uA/m))。两个近场探头的校正系数已存储在EMC分析仪的ROM中。

    ⑶ 诊断内容
    寻找PCB板的“热点”(即电磁辐射过强的部位),记录其频率及幅值;寻找PCB的“敏感度空洞”(即电磁敏感度薄弱部位),记录其频率及幅值;寻找屏蔽壳体上不应有的孔隙部位。图5(b)为诊断屏蔽壳体上不应有的孔隙部位的测量配置示意图。

Copyright © 2017-2020 微波EDA网 版权所有

网站地图

Top