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TLV2544/2548多通道12位串行A/D转换器

时间:01-25 来源:电子产品世界 点击:

D2 EOC/INT引脚功能选择,0;引脚用作INT;1:引脚用作EOC
D(1,0) FIFO触发器电平(扫描序列长度)
00:全部(FIFO level 7填满后产生INT)
01:3/4(FIFO level 5填满后产生INT)
10:1/2(FIFO level 3填满后产生INT)
11:1/4(FIFO level 1填满后产生INT)

*这些位仅在10和11转换模式中有效

TLV2544/2548两芯片的内部功能结构相同,不同之处就是前者的模拟输入通道为4路,而后者为8路。下面以TLV2544为例为介绍。

2 工作原理

TLV2544有4路模拟输入和3个内部测试输入端,它们可由模拟多路转换器根据输入的命令来选择。输入多路转换器采用先开后合型,因为这可减少由通道切换引起的输入噪声。

TLV2544 的工作周期的开始模式有两种:一种是当不使用FS时(在CS的下降沿FS=1),CS的下降沿即为周期的开始。这时的输入数据在SCLK的上升沿移入,输出数据下降沿改变。这种模式虽然也可用于DSP,但一般常用于SPI微控制器。另一种是当使用FS时(FS是来自DSP的有效信号),FS的下降沿即为周期的开始,这时的输入数据在SCLK的下降沿移入,输出数据在其上升沿改变,这种模式一般用于TMS320系列的DSP。

TLV2544 具有一个4位命令集(存于命令寄存器CMR中)和一个12位配置数据域。大多数命令只需要前4个MSB,即不需要低12位数据。值得注意的是,器件在上电初始化时首先需要将将始化命令A000h写入CFR配置寄存器,然后对器件进行编程,其编程方法是在初始化命令A000h的低12位000h写入编程数据以规定器件的工作方式。编程定义如表2所列,编程信息被保留在H/W或S/W的断电状态。当器件被编程时,由微处理发送一个16位串行数据写入CFR,如果在输入了前8位后SCLK中断,那么余下的8位则在SCLK被恢复后再输入。一个读CFR命令可读出CFR的状态,以校验写入控制命令是否正确,其他控制命令可参见表3。

表3 TLV2544/TLV2548命令集

SDID(15~12)BINary HEX TLV2548指命 TLV2544指命
0000b 0000h 选择模拟通道0 选择模拟通道0
0001b 1000h 选择模拟通道1 N/A
0010b 2000h 选择模拟通道2 选择模拟通道1
0011b 3000h 选择模拟通道3 N/A
0100b 4000h 选择模拟通道4 选择模拟通道2
0101b 5000h 选择模拟通道5 N/A
0110b 6000h 选择模拟通道6 选择模拟通道3
0111b 7000h 选择模拟通道7 N/A
1000b 8000h 选择模拟通道8 SW电源跌落(模拟+参考)
1001b 9000h 读CFR寄存器数据到SDO D(11~0)
1010b A000h plus data 将低12位数据写CFR
1011B B000h 测试选择,电压为(REFP+REFR)/2
1100b C000h 测试选择,电压为REFM
1101b D000h 测试选择,电压为REFP
1110b E000h FIFO读,将FIFO内容送SDO D(15~4),D(3~0)=0000
1111b F000h plus data 保留

如果前高4位输入数据被译码为转换命令之一,那么采样周期开始。一般有两种采样方式:正常采样和扩展采样。正常采样实际上是采用软件启动A/D变换方式,当 A/D转换器正常采样时,采样周期是可编程的,它可以是12SCLKs(短周期采样)或24SCLKs(长周期采样)。当SCLK高于10MHz或输入源

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