基于PXI的高速数字化仪模块

PXI总线是NI公司在计算机外设总线PCI的基础上实现的新一代仪器总线，已经成为业界开放式总线的标准，基于PXI总线的数字化仪模块是现代测试系统中重要的一种数据记录与处理设备。设计一个双通道12 bit／250 MHz采样频率的高速数字化仪模块，以高性能FPGA器件为核心，实现对高速A／D的控制以及高速数据处理和存储，解决了长时间高速记录信号的测试难题。

1 系统工作原理
数字化仪模块主要由前端信号调理通路、模数转换电路、数据存储单元、数据采集控制电路、PXI接口电路等部分组成，其原理框图如图l所示。

高速模拟信号首先经过信号调理通路进行放大、衰减等处理，将幅度调整到A／D转换器允许输入的电压范围内，并转化成LVDS格式的差分信号，然后送到A／D转换器；FPGA芯片接收A／D输出的高速数据流，经过降速、抽取滤波等处理后，存储到数据存储单元SRAM中，并发出中断信号，PXI主机响应中断后经由FPGA将存储在SRAM中的数据读入主机内存，完成后续的数据处理和显示。PXI主机通过PXI总线发送控制命令，经FPGA译码后实现对数据采集和调理通路控制。该数字化仪模块为每个通道预留了4Mb的存储容量，当组成PXI测试系统时，可以将数据写入计算机硬盘，实现更长时间的记录。两个通道可以独立工作，也可以相互关联。采集方式可以有内触发、外触发、软件触发、通道触发等多种模式。

2 系统设计实现
2．1 模块化的FPGA设计
本文所设计的数字化仪是基于高性能FPGA芯片实现的，FPGA承担了绝大部分的控制和数据处理任务，是本设计的核心器件。对FPGA进行模块化设计，是大型系统设计的常用方法。合理分割功能模块，能加快FPGA的开发，也有利于代码的移植和重复利用。在设计时将FPGA分成高速A／D接口模块、数据降速模块、调理通路控制模块、存储接口模块、PXI接口控制模块等主要功能模块设计。FPGA内部模块划分和数据流向如图2所示。

A／D接口模块主要实现FPGA和高速A／D转换器的互联，以LVDS格式总线接收数据和采样时钟，该部分电路决定数据采集的稳定性，需要从硬件和软件两个方面保证；数据降速模块采用抽取滤波器将信号降低到需要的采样速率；调理通路控制模块主要实现对A／D前端电路的控制，包括耦合方式、匹配阻抗选择、增益自动控制、偏置和触发电平控制等；PXI接口部分主要实现和PXI主机的通讯译码；存储控制模块完成对外部SRAM的控制，实现数据缓存；时钟管理模块负责采样时钟的分频、倍频等处理。
2．2 高速数据采集和存储接口设计
高速数据采集系统的输入输出接口设计是尤为重要的，高速IC芯片的相互连接是决定数据采集系统稳定性的关键因素之一，低功耗及高的信噪比是有待解决的主要问题。通常实现高速采集系统中芯片间互联有两种接口：PECL和LVDS。正电压射极耦合逻辑PECL(Positive Emit-ter-Coupled Logic)信号的摆幅小，适合于高速数据的串行或并行连接，PECL间的连接一般采用直流耦合，输出设计为驱动50 Ω负载至(VCC -2V)，连接电路如图3所示。

低压差分信号LVDS(Low Voltage Differential Signal)标准是一种小振幅差分信号技术，它使用非常低的幅度信号(100～450 mV)。通过一对平行的PCB走线或平衡电缆传输数据。在两条平行的差分信号线上流经的电流方向相反，噪声信号同时耦合到两条线上，而接收端只关心两信号的差值，于是噪声被抵消。由于两条信号线周围的电磁场也互相抵消，故差分信号传输比单线信号传输电磁辐射小很多，从而提高了传输效率并降低了功耗。LVDS的输入与输出都是内部匹配的，采用直连方式即可，连接方式如图4所示。

本设计中。A／D转换器选用Mamix公司的MAXl215，该芯片是一款12 bit／250 Ms／s的高速A／D转换器，它具有出色的SNR和SFDR特性，使用250 MHz差分采样时钟，接收差分输入信号，输出12位LVDS格式的差分数字信号，提供差分同步时钟信号。为了提高测试精度，单端的输入信号需要转换成差分模式后再送入A／D，增益调整及单端到差分转换电路的局部如图5所示。考虑阻抗匹配问题，在单端信号转换为差分模式时，需要在2个差分线上串联50 Ω的匹配电阻，作为LVDS信号的发送端。

在PCB的设计中，对差分线要进行特别处理。差分线在走线区间内的实际布线公差应控制在5 mil内；差分对内两条线之间的距离应尽可能小，以使外部干扰为共模特征；要保证每个差分对内的长度相互匹配，以减少信号扭曲；采用电源层作为差分线的信号回路，因为电源平面有最小的传输阻抗，可以有效减少噪声影响。图6所示为本设计PCB的局部。

本设计中FPGA作为LVDS信号