微波EDA网,见证研发工程师的成长!
首页 > 硬件设计 > 模拟电路设计 > PN结的形成

PN结的形成

时间:07-12 来源:互联网 点击:

运动,重新获得能量,又可通过碰撞,再产生电子–空穴对,这就是载流子的倍增效应。当反向电压增大到某一数值后,载流子的倍增情况就像在陡峻的积雪山坡上发生雪崩一样,载流子增加得多而快,这样,反向电流剧增, PN结就发生雪崩击穿。

齐纳击穿

在加有较高的反向电压下,PN结空间电荷区中存一个强电场,它能够破坏共价键,将束缚电子分离出来产生电子–空穴对,形成较大的反向电流。发生齐纳击穿需要的电场强度约为2×105V/cm,这只有在杂质浓度特别大的PN结中才能达到。因为杂质浓度大,空间电荷区内电荷密度(即杂质离子)也大,因而空间电荷区很窄,电场强度可能很高。

六、PN结的势垒电容

在一定条件下,PN结显现出充放电的电容效应。不同的工作情况下的电容效应,分别用势垒电容和扩散电容于以描述。

势垒电容CB

势垒电容CB描述了PN结势垒区空间电荷随电压变化而产生的电容效应。PN结的空间电荷随外加电压的变化而变化,当外加电压升高时,N区的电子和P区空穴进入耗尽区,相当于电子和空穴分别向CB“充电”,如图(a)所示。当外加电压降低时,又有电子和空穴离开耗尽区,好像电子和空穴从CB放电,如图(b)所示。CB是非线性电容,电路上CB与结电阻并联。在PN结反偏时结电阻很大,CB的作用不能忽视,特别是在高频时,它对电路有较大的影响。

 

Copyright © 2017-2020 微波EDA网 版权所有

网站地图

Top