基于虚拟仪器技术的混合集成电路测试系统的设
时间：11-30
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综上所述，所开发的混合集成电路测试系统可以实现集成电路性能参数的测试和判别，而且具有很好的可维护性、可理解性和可靠性。软件设计中采用了数据库和格式文本来描述被测设备的数学模型，从而实现了检测设备与被测设备的分离，极大的提高了系统的通用性。
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