数字锁相放大器的实现研究
以下仿真条件下整个低通滤波器的幅频响应曲线。 (1)第一级CIC降采样D=512; 系统输入采用了安捷伦公司(Agilent)生产的33250A函数/任意波形发生器,它最低可以产生峰值为1 mV的正弦波。Agilent 33250A函数/任意波形发生器采用直接数字合成技术,可以产生稳定、精确的各种输出波形,频率分辨率可达1μHz,幅度分辨率可达0.1 mV。函数发生器产生的mV级的信号,可以经过衰减比例可调的精密电阻网络来产生幅度为μV级的信号以供测量。 通过测试结果可以看出,随着采样频率的降低,窄带滤波器的带宽逐渐降低,系统抗噪声能力越强。当采样频率fs=300 kHz时,窄带滤波器的带宽BW=0.46 Hz,Q值达105以上。为了进一步提高系统的抗噪声能力,在满足采样定理的情况下,可以适当地降低采样频率获得Q值更高的窄带滤波器。 由测试结果可知,在输入信号为5~150 mV时,系统具有较好的线性度,测试的相对误差在0.5%以内。 由图10可以看出,当输入信号的幅度恒定为1 mV时,频率从1 kHz变化到120 kHz,系统测试的相对误差小于0.9%。
(2)第二级采用两级半带滤波级联实现,其中第一个半带滤波器阶数为15阶,第二个半带滤波器阶数为23阶,作为降采样之前的抗混叠滤波器;
(3)第三级利用Matlab的Filter Design&Analysis Tool,采用等波纹法作为设计准则,设计了一个采样率为250 Hz,通带波纹为0.01 dB,通带截止频率为0.5Hz,阻带衰减为80dB,阻带下限截止频率为2Hz的低通滤波器,滤波器的阶数为388阶。第三级未采用均值滤波器。
仿真结果说明,在采样率为500 kHz时,滤波器的通带截止频率可达0.52 Hz,2 Hz处的衰减可达到-60 dB,整个阻带衰减接近-80 dB,并且,算法运算极易在DSP内部实现。如果合理地降低系统的采样频率,可以实现通频带更窄的低通滤波器。
4 数字锁相放大器的测试
为了产生极其微弱的测试信号,系统采用了对标准信号通过电阻网络进行衰减的方法。为了测试数字锁相放大器对微弱信号的检测性能,搭建了如图6所示的测试平台。
4.1 窄带滤波器性能测试
数字锁相放大器系统中的窄带滤波器应该具有较高的Q值。为了对设计的数字窄带低通滤波器的性能进行测试,采取了如下的测试方法:用波形发生器产生幅度恒定的正弦信号(幅度恒定为2 000 mV),设定数字锁相放大器参考信号频率为50 kHz,将输入信号的频率以50 kHz为中心,以0.05 Hz为步长,逐步增加或减少输入信号的频率,测试输入信号的幅度衰减。
图7显示了在不同采样频率的情况下,输入信号与参考信号的频差和输出幅度衰减的关系。
4.2 大信号幅值测试
利用33250A函数/任意波形发生器产生周期为20 kHz,幅度从5~150 mV、步进为5 mV的正弦波信号作为测试信号的输入(不经过电阻衰减网络)。此信号经过前端模拟电路的14倍放大、滤波和采样后,在DSP中进行相关运算。当ADC的采样率fs=420kHz时,测试结果如图8所示。
4.3 小信号幅度测试
在μV级小信号测试时,由于环境噪声、外界干扰及电阻热噪声等因素的影响(幅度通常在mV级),经放大、滤波处理后的有用信号淹没在强噪声中,已经无法通过示波器观测其时域波形。将待测信号的频率设定为20 kHz,然后以1 mV为起始,步进为0.5 mV地改变输入正弦波的幅度,此信号经过999:1的精密电阻衰减网络后产生μV级的待测信号。此信号经过前级14 000倍的放大后进入ADC。为了尽量减小噪声对测试的影响,保持较高的测试精度,系统合理地降低了采样频率。实际测试中,采样频率设定为400 kHz。测试结果如图9所示。
由测试结果可知,当待测信号的幅度在1~40μV时,系统具有较好的线性度,系统测试的幅度相对误差小于2%。
4.4 频率一致性测试
数字锁相放大器可以测定一定频率范围内的微弱周期信号。不同频率信号的幅度测试准确度是其重要的技术指标。设置33250A函数/任意波形发生器输出的正弦周期信号幅度恒定为1 mV(不经过电阻衰减网络),将信号经过500倍的放大,改变输入信号的频率对其进行测试。实际测试结果如图10所示。
5 结语
本文对数字锁相放大器的系统结构进行了研究,设计了一种利用DSP串行接口配合DMA方式的高速数据采集系统,最大限度地降低了系统的硬件复杂度。同时针对这种结构的特点,系统在数据采集过程中采用了一种双缓冲的结构。这种结构不仅避免了采用双口RAM或者FIFO等器件而导致硬件结构的复杂化和成本的上升,而且具有采样频率灵活可控的特点。将此结构稍加改变,就可以应用于其他的数据采集系统中。同时基于降采样的思想,利用积分梳状滤波器和半带滤波器,实现了一种高效的窄带低通滤波器,满足了数字锁相放大器对精度和实时性的要求。系统的整体测试结果表明,当输入信号为mV量级时,系统测试相对误差小于0.5%;当输入信号为μV级时,系统测试的相对误差小于2%。同时系统在1~120 kHz的工作范围内,具有较好的一致性,幅度测试误差不超过0.9%。
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