你了解ADC吗?模数转换器(ADC)不同类型数字输出深
在当今的模数转换器(ADC)领域,ADC制造商主要采用三类数字输出。这三种输出分别是:互补金属氧化物半导体(CMOS)、低压差分信号(LVDS)和电流模式逻辑(CML)。每类输出均基于采样速率、分辨率、输出数据速率和功耗要求,根据其工作方式和在ADC设计中的典型应用方式进行了论述。本文将讨论如何实现这些接口,以及各类输出的实际应用,并探讨选择和使用不同输出时需要注意的事项。此外还会给出关于如何处理这些输出的一般指南,并讨论各类输出的优劣。
基本知识
使用数字接口时,无论何种数字输出,都有一些相同的规则和事项需要考虑。首先,为实现最佳端接,接收器(FPGA或ASIC)端最好使用真正的电阻终端。接收器端的反射可能会破坏系统的时序预算。使用CMOS和LVDS输出时,如果系统中有多个ADC,不要使用来自某个ADC的DCO(数据时钟输出),否则可能导致时序错误以及接收器不适当地捕捉数据。在两个ADC之间需要保持精确时序的I/Q系统中,这点尤其要注意。即使两个ADC位于同一封装中,也需要针对各ADC使用适当的DCO输出,从而保持精确的时序关系。另一个需要注意的重要参数是数据格式。必须确保ADC和接收器采用同一数据格式(二进制补码或偏移二进制)。此外,数据转换速度也很重要。随着数据速率提高,接收器能够正确捕捉数据的距离减小,原因是互连和电缆带宽限制,以及由此引起的符码间干扰等问题。这些只是为什么必须将互连视作传输线路的其中几个原因。以这种方式处理互连并了解传输线路的特性很重要。当数据速率提高时,以这种方式了解互连变得更加重要。必须确保导线尺寸正确,并且信号层与返回层之间的间距适当。此外还必须选择具有稳定介电特性的电路板材料,使得走线特性在整个互连长度上的波动尽可能小。理想情况下,传输线路可以传播到无穷远处,但在实际应用中,这显然是不可能的。集肤效应、电介质损耗和辐射损耗等因素全都会影响传输线路参数,降低信号质量。因此,必须以正确的物理参数适当设计传输线路,并且确保发送器与接收器的阻抗匹配。这样做能够节省电能,并将最高质量的信号传输给接收器。
关于CMOS,我们所需要了解的
使用CMOS输出时,有多个方面需要考虑。首先考虑逻辑电平的典型开关速度(约1V/ns)、输出负载(每个门约10pF)和充电电流(每路输出约10mA)。应当采用尽可能小的容性负载,使充电电流最小。这可以利用尽可能短的走线仅驱动一个门来实现,最好没有任何过孔。此外还可以利用阻尼电阻来尽量降低充电电流。之所以必须将这些电流降至最小,是因为它们会迅速叠加。例如,一个四通道14位ADC的瞬态电流可能高达14 x 4 x 10 mA = 560 mA!串联阻尼电阻有助于抑制如此大的瞬态电流,降低输出瞬态效应产生的噪声,从而防止输出在ADC中造成额外的噪声和失真。
图1. 带阻尼电阻的CMOS输出驱动器。
阻尼电阻和容性负载的时间常数应小于输出数据速率周期的大约10%。例如,如果使用采样速率为80 MSPS的ADC,各CMOS输出端的容性负载为10 pF,则时间常数应为12.5 ns的大约10%,即1.25 ns。因此,阻尼电阻R可以设置为100Ω,这个阻值很容易获得,并且满足时间常数条件。选择更大的R值可能会降低输出数据建立时间性能,并干扰接收器端正常的数据捕捉。ADC CMOS输出端的容性负载只能是单门负载,无论如何都不应直接连接到高噪声数据总线。要连接到数据总线,应使用一个中间缓冲寄存器,从而将ADC CMOS输出端的负载降至最低。随着CMOS输出的数据速率提高,瞬态电流也会增大,导致更高的功耗。CML的优点是:因为数据的串行化,所以对于给定的分辨率,它需要的输出对数少于LVDS和CMOS驱动器。JESD204B接口规范所说明的CML驱动器还有一个额外的优势,因为当采样速率提高并提升输出线路速率时,该规范要求降低峰峰值电压水平。
LVDS和CML
与CMOS相比,LVDS有几项优势很吸引人,包括:转换器采样速率更高而功耗更低、支持更高的数据速率、抗扰度更高以及驱动距离更长等。使用CMOS等单端信号时,印刷电路板上的噪声明显较多,这是因为CMOS输出切换感应的大量瞬态电流引起接地反弹。这噪声更有可能耦合到ADC时钟和模拟输入中,导致SNR和SFDR性能下降。LVDS和CML采用差分信号,虽然并未完全消除CMOS中的接地反弹,但至少大大降低了这种效应。由于采用差分信号,系统本身就能抑制共模噪声,防止SNR和SFDR性能受损。LVDS和CML信号是平衡的,因此串扰被降至最小。由于信号的低压和差分性质,电磁干扰(EMI)同样降低。
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