图2和图3表示电路的积分非线性(INL)和微分非线性(DNL)曲线。注意INL和DNL低于±1 LSB。

图2. 采样速率为1 MSPS时的INL

图3. 采样速率为1 MSPS时的DNL

图4表示针对8192个样本计算的FFT数据；采样速率为1MSPS，模拟输入频率为10 kHz。SNR为70.44 dBFS。

图4. 系统的FFT，输入=10 kHz，采样频率=1 MSPS

该电路必须构建在具有较大面积接地层的多层印刷电路板(PCB)上。为实现最佳性能，必须采用适当的布局、接地和去耦技术(请参考 指南MT-031、 指南MT-101以及 CN-0247 设计支持包中展示 AD7091R评估板布局)。

根据应用和传感器的具体要求，可以更改AD7091R和AD8031周围的器件值。例如，可配置缓冲器以提供增益和失调，并且RC滤波器的截止频率可根据采样频率和输入频率而变化。

有关完整的文档包，包括原理图、电路板布局以及物料清单(BOM)， 请参考http://www.analog.com/CN0247-DesignSupport

电路评估与测试

为了评估和测试 AD7091R与本电路笔记所述电路，我们开发了评估板 EVAL-AD7091RSDZ。有关详细的原理图和用户指南，请参考 EVAL-AD7091RSDZ 文档。图5显示测试设置的功能框图。

设备要求

为测试该电路，需要如下设备：

• EVAL-AD7091RSDZ 评估板(包括软件和9 V直流壁式电源适配器)
• EVAL-SDP-CB1Z 系统演示平台电路板
• 一个低失真信号发生器，如Agilent 81150A或Audio Precision System Two 2322
• 带USB 2.0端口的PC，运行Windows? XP、Windows Vista或Windows 7(32位或64位)
• 电源：9 V直流壁式电源适配器(包括在评估板中，外部3 V / 50 mA直流电源

设置

连接任何硬件之前，确保 EVAL- AD7091RSDZ 评估板上的连接位置如下：

• LK1：位置A(选择 AD8031 作为输入缓冲器)
• LK2：位置A(输入J5连接至输入缓冲器)
• LK5：位置A(使能外部V_DRIVE 源)
• LK6：位置B(使能外部 V_DD 源)

之后，根据评估板文档中所述连接硬件并安装软件。

请参考评估板文档，查看如何运行本电路笔记中所述各种测试的完整描述。

图5. 测试设置功能框图