微波EDA网,见证研发工程师的成长!
首页 > 硬件设计 > 模拟电路设计 > 无线测试起飞 测量厂商掘金新市场

无线测试起飞 测量厂商掘金新市场

时间:11-29 来源:互联网 点击:

事实上,3、4月份测试测量技术应用领域厂商推陈出新,技术新品层出不穷。蓬勃发展的无线测试技术市场需求,给测试测量厂商带来极大的商机与挑战。那么,即将过去的3、4月中,哪些才是我们该注意的?整个市场发展的大势是什么?鉴于此,电子发烧友网测试测量频道编辑将这两月统一整理捋顺,期于读者有益参考。

  趋势聚焦1、移动终端测量驱动基础仪器换机潮

  移动终端测量的持续升温,直接吸引着芯片厂商及系统厂商加码投资研发进程。其中,仪器厂商最为看好示波器,方向重点在更高频宽、取样率等新方案。同时,由于移动终端日益增强的应用功能,催化更为复杂电路及通信协定预测,全面提升信号发生器、频谱/网络分析仪功能迫在眉睫。

  趋势聚焦2、泰克公司抢进全新产线——功率分析仪市场

  泰克公司日前宣布,其将进军功率分析仪市场并在随后几个月内推出一个全新产品线。为此,泰克公司将签署一项技术转让协议,根据此协议泰克公司将获得来自其合作伙伴Voltech公司的功率分析仪的知识产权、专利与产品设计,而Voltech将在2013年9月30日退出功率分析仪市场。

  事实上,泰克该举动主要为了加速打开测试测量市场新增量,增加太阳能光伏和风能等新能源测量领域价值,后期力度驱动值得关注。

  趋势聚焦3、NI公司发布《自动化测试趋势展望2013》

  《自动化测试趋势展望2013》中包含以下几个趋势:

  测试中的经济学: 新的投资模式迫使很多部门重新衡量成功的方式。

  海量模拟数据: 工业领先的公司利用IT基础设施和分析工具来更快速地根据测试数据做出决策。

  以软件为中心构建的生态系统:开放、以软件为中心的生态系统将对自动化测试系统的价值产生巨大影响。

  测试软件质量:工程师采用最佳的软件开发方法来确保复杂测试系统的可靠性。

  摩尔定律同样适用于RF领域:新兴技术和仪器平台推动RF测试设备性能的提升和成本的降低。

  厂商主流方案

  1、安捷伦紧盯802.11ac产线 推“一揽子”测试解决方案

  北京安捷伦科技公司推出全新的无线连通性测试仪和多端口适配器,旨在帮助无线设备制造商对802.11a/b/g/n/acWLAN、蓝牙?1.0到 4.0以及全球导航卫星系统(GNSS)等技术进行快速、精确的产线测试。

  最新AgilentE6630A无线连通性测试仪的主要特性包括:

  · 支持多种无线连通性制式:802.11a/b/g/n/ac WLAN、蓝牙 1.0 至 4.0 和 GNSS(GPS、伽利略、GLONASS 等)。

  · 基于安捷伦可靠稳定的 X 系列应用测量技术为基础,执行标准的无线连通性校准和验证测试,简化从产品上市到批量生产的过渡。

  · 使用最新的 PXI 硬件体系结构,可配置多达两套信号产生和分析的组合,提供快速、准确的测量结果。

  · 通过安捷伦生产测试整合计划紧密跟踪 WLAN 芯片组的最新发展,将安捷伦测试仪整合到芯片组厂商的生产测试工具中。

  2、RS提供全方位移动通信测试解决方案

  罗德史瓦兹(Rohde Schwarz)与其旗下子公司 SwissQual与 ipoque 提供移动网络业者所需的全方位测试解决方案,囊括了射频(RF)及协定测试系统、现场安装与干扰信号捕捉(interference hunting) 所需使用的手持式仪器、路道测试系统、基准比校测试(benchmarking)及深度封包检测(DPI),提供完整且同时兼具广度与深度的测试解决方案,确保移动网络的品质。

  ipoque提供网络智能和策略控制解决方案,帮助固网及移动通信厂商更快地掌握通信流量模式、制订新的数据服务及付费机制、和提高用户的通信品质;ipoque产品可作所有通信应用程序分类和分析引擎,进而控制频宽使用和处理频宽拥塞,提供最佳化的服务品质和提高日常通信运作的能见度。

  3、泰克在2013 IDF展示业界最完整、最灵活的高速串行信号测试解决方案

  泰克公司日前宣布,在4月10日--11日于北京中国国家会议中心举办的2013英特尔信息技术峰会(IDF)上展示业界最完整、最灵活的高速串行信号测试解决方案,为高速数据设计人员解决USB 3.0、PCIe Gen3/4、SATA等高速串行信号测试带来的挑战,并大幅缩短测试和调试时间。

  据悉,Superspeed USB是本届IDF的重要主题之一。作为USB测试行业的领导者和USB3.0标准组织的唯一测试测量技术贡献者,泰克将展示其先进、完整的USB3.0测试解决方案和咨询服务。

泰克为USB测试提供了丰富的验证、调试以及一致性测试方案,而不像其他测试方案,仅仅支持规范定义的标准测试。TekExpress的USBTX 选件囊括了USB3.0 Tx端所有的必测项目和可选测试项目,DPOJET USB3 选件提供了半自动化的USB3.0 Tx端必测和可选测试项目以及设置库。同時,泰克方案还可帮助完成USB功率测试,以符

Copyright © 2017-2020 微波EDA网 版权所有

网站地图

Top