如何提高抗随机图形设计的故障覆盖率

结论

对用于军事和汽车等关键应用的器件来说，现场的LBIST测试必不可少。为在尽可能短的时间内达到最大的故障覆盖率，测试目标应严格选取。如前所述，LBIST控制器的故障检测能力决定测试质量和所需时间，它取决于诸如时钟测序、用于PRPG的种子的智能选择、添加的控制和观测点的数量等参数。为得到最大覆盖率，应对设计进行正确的分析和优化，并采用本文介绍的技术，上述应成为LBIST测试的指导原则。

参考

A new built-in TPG method for circuits with random pattern resistant faults, Kavousianos, X.; Bakalis, D.; Nikolos, D.; Tragoudas, S. ?

《一种用于抗随机模型故障电路的新型内置TPG方法》

作者：Kavousianos，X、Bakalis，D‘Nikolos，D、Tragoudas，S.

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M. F. Alshaibi and C. R. Kime, “MFBIST: A BIST method for random pattern resistant circuits,” in Proc. Int. Test Conf. , 1996, pp. 176–185

《MFBIST：抗随机模型电路的BIST方法》

作者：M. F. Alshaibi和C. R. Kime

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VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability Xiaoqing Wen, Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu

《VLSI测试原理和体系结构：可测性设计》

作者：Xiaoqing Wen、Laung-Terng Wang、Cheng-Wen Wu

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Method and apparatus for programmable LBIST channel weighting Patent US6671838

《可编程LBIST通道加权的方法和设备》

美国专利US6671838