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LDO环路稳定性及其对射频频综相噪的影响

时间:01-23 来源:mwrf 点击:

本文首先简要地介绍了LDO的噪声来源及环路稳定性对输出噪声的影响;其次,根据调频理论推导出VCO的相位噪声与LDO的噪声频谱密度的理论计算关系。在此基础上,为了验证LDO噪声对射频频综输出相噪的影响,分别采用TPS7A8101和TPS74401 LDO评估板给TRF3765射频频综评估板供电,对比测试这两种情况下的TRF3765相噪曲线;同时,为了验证LDO环路稳定性对频综相噪的影响,针对TPS7A8101评估板的参考电路做出部分修改,并对比测试了电路修改前后的TRF3765输出相噪。

1、LDO噪声来源及环路稳定性对输出噪声影响

1.1 LDO噪声来源

LDO的噪声分为LDO内部的噪声和LDO外部的噪声。LDO内部的噪声来自于内部电路的带隙基准源,放大器以及晶体管。LDO外部的噪声来自于输入。在LDO的手册中,PSRR是表征LDO抑制外部噪声的能力,但PSRR高并不代表LDO内部噪声小。LDO的总输出噪声才是表征LDO内部噪声抑制的参数,一般在电气特性表里用单位?VRMS表示,或者在噪声频谱密度图上表示。

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图2是LDO内部结构框图,VN代表等效噪声源。噪声源包括带隙基准源产生的噪声VN (REF),误差放大器产生的噪声VN (AMP),FET产生的噪声VN (FET)以及反馈电阻产生的噪声VN (R1)和VN (R2)。在大多数情况下,由于带隙基准源电路是由很多不同的电阻、晶体管和电容组成,它所产生的噪声会远远大于反馈电阻产生的噪声。而且带隙基准源是误差放大器的输入,它所产生的噪声也会经由误差放大器放大来控制FET,所以误差放大器本身以及FET所产生的噪声也会比带隙基准源的噪声要低。可以说,LDO内部最大的噪声源就是带隙基准源。我们把LDO输出噪声VN (OUT)表示为
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VN (Other)是VN (AMP)以及VN (FET)的和。由公式1可以得出,输出噪声最小值出现在R1短接到FB,误差放大器的增益近似为1的时候。

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1.2 LDO噪声抑制方法

为了抑制带隙基准源产生的噪声,有三种办法。
一是降低误差放大器的带宽,抑制了带隙基准源的高频噪声。但是降低带宽会使LDO的动态性能降低。
二是在带隙基准源和误差放大器之间加低通滤波。高性能的LDO都会有一个噪声抑制NR管脚,CNR并联在带隙基准源和GND之间,起到低通滤波的作用。如图3所示。

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三是在反馈电阻R1上增加前馈电容CFF.在增加了CFF和CNR后,输出噪声可以表示为
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从式2可以得出,CFF越大,输出噪声就越小。频率越高,输出噪声越小。
图4是不同CFF下的噪声频谱密度图。可以看出,CFF越大,噪声从低频开始都能被很好的抑制。CFF太小的时候,抑制噪声的作用就不太明显。当频率很高的时候,不管用多大的CFF,噪声频谱密度相差不会太大。所以,增加合适的前馈电容CFF,对改善LDO低频噪声有非常好的效果。

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1.3 LDO环路稳定性与输出噪声的关系

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从LDO的小信号分析可以看出,LDO有两个低频极点,如果没有合适的零点补偿,LDO的稳定裕度不够,就有可能产生震荡。稳定裕度不够的LDO产生的内部噪声会更大。上节中提到第三种噪声抑制方法,即增加前馈电容CFF是实际上为了改善系统稳定裕度。由CFF与R1组成一个低频零点,闂傚倸鍊搁崐鎼佸磹閹间礁纾归柟闂寸绾惧綊鏌熼梻瀵割槮缁惧墽鎳撻—鍐偓锝庝簼閹癸綁鏌i鐐搭棞闁靛棙甯掗~婵嬫晲閸涱剙顥氬┑掳鍊楁慨鐑藉磻濞戔懞鍥偨缁嬪灝鐎俊銈忕到閸燁偆绮诲☉妯忓綊鏁愰崨顔跨缂備礁顑勯懗鍓佹閹捐纾兼慨姗嗗厴閸嬫捇鎮滈懞銉モ偓鍧楁煥閺囨氨鍔嶉柟鍐茬焸濮婄粯鎷呴崨濠傛殘闂佽崵鍠嗛崕鎶藉箲閵忕媭娼ㄩ柍褜鍓欓锝嗙節濮橆厼浜滅紒鐐妞存悂寮查鍕拺闁圭ǹ娴风粻鎾寸箾鐠囇呭埌閺佸牊淇婇妶鍛櫤闁稿鍓濈换婵囩節閸屾稑娅e銈忕到閵堟悂骞冩禒瀣垫晬婵炴垶蓱鐠囩偤姊虹拠鈥虫灍闁荤噦濡囬幑銏犫攽鐎n亞鍊為梺闈浤涢崘銊ヮ洭濠电姷鏁告慨鐑藉极閹间礁纾规い鏍仜閻掑灚銇勯幒鎴濐仼缁炬儳顭烽弻鐔煎礈瑜忕敮娑㈡煟閹惧娲撮柟顔筋殜閺佹劖鎯旈垾鑼晼濠电姭鎷冮崘顏冪驳闂侀€涚┒閸斿秶鎹㈠┑瀣窛妞ゆ洖鎳嶉崫妤呮⒒娴e憡璐¢柟铏尵閳ь剚姘ㄦ晶妤佺┍婵犲洤绠瑰ù锝堝€介妸鈺傜叆闁哄啠鍋撻柛搴$-缁辩偤骞掑Δ浣叉嫽闂佺ǹ鏈悷銊╁礂瀹€鍕厵闁惧浚鍋呭畷宀€鈧娲滈弫璇差嚕娴犲鏁囬柣鎰問閸炵敻姊绘担鑺ョ《闁革綇绠撻獮蹇涙晸閿燂拷...

由下图的频率响应可以看出,零点是相位裕度有了很大的提升,增加了系统稳定性,从而减小了系统低频噪声。

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2、LDO噪声与VCO输出相噪的关系

电源引入噪声对锁相环中各个有源器件都可能造成影响,其中最为敏感的部分是VCO,本文将着重讨论LDO输出噪声对VCO相噪的影响。
一个典型的LDO供电的频综系统框图如图7所示:加载在电源上的噪声信号通过频率调制过程调制到VCO的输出,造成VCO输出相噪恶化。

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根据经典调频系统理论,调制指数β由式(3)来表示闂傚倸鍊搁崐鎼佸磹閹间礁纾归柟闂寸绾惧綊鏌熼梻瀵割槮缁惧墽鎳撻—鍐偓锝庝簼閹癸綁鏌i鐐搭棞闁靛棙甯掗~婵嬫晲閸涱剙顥氬┑掳鍊楁慨鐑藉磻濞戔懞鍥偨缁嬪灝鐎俊銈忕到閸燁偆绮诲☉妯忓綊鏁愰崨顔跨缂備礁顑勯懗鍓佹閹捐纾兼慨姗嗗厴閸嬫捇鎮滈懞銉モ偓鍧楁煥閺囨氨鍔嶉柟鍐茬焸濮婄粯鎷呴崨濠傛殘闂佽崵鍠嗛崕鎶藉箲閵忕媭娼ㄩ柍褜鍓欓锝嗙節濮橆厼浜滅紒鐐妞存悂寮查鍕拺闁圭ǹ娴风粻鎾寸箾鐠囇呭埌閺佸牊淇婇妶鍛櫤闁稿鍓濈换婵囩節閸屾稑娅e銈忕到閵堟悂骞冩禒瀣垫晬婵炴垶蓱鐠囩偤姊虹拠鈥虫灍闁荤噦濡囬幑銏犫攽鐎n亞鍊為梺闈浤涢崘銊ヮ洭濠电姷鏁告慨鐑藉极閹间礁纾规い鏍仜閻掑灚銇勯幒鎴濐仼缁炬儳顭烽弻鐔煎礈瑜忕敮娑㈡煟閹惧娲撮柟顔筋殜閺佹劖鎯旈垾鑼晼濠电姭鎷冮崘顏冪驳闂侀€涚┒閸斿秶鎹㈠┑瀣窛妞ゆ洖鎳嶉崫妤呮⒒娴e憡璐¢柟铏尵閳ь剚姘ㄦ晶妤佺┍婵犲洤绠瑰ù锝堝€介妸鈺傜叆闁哄啠鍋撻柛搴$-缁辩偤骞掑Δ浣叉嫽闂佺ǹ鏈悷銊╁礂瀹€鍕厵闁惧浚鍋呭畷宀€鈧娲滈弫璇差嚕娴犲鏁囬柣鎰問閸炵敻姊绘担鑺ョ《闁革綇绠撻獮蹇涙晸閿燂拷...
对于电源噪声调制,式中的频率背离(Frequency Deviation)可由下式得到
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式中,Kpush是VCO的电源推压指数,它表征的是VCO对电源噪声波动的灵敏度,单位用MHz/V来表示;A是电源噪声信号幅度。
对于采用LDO供电的射频频综来说,通常用LDO的指定频率偏移的频谱噪声密度Sldo(f)(Noise Spectrum Density)来表征电源噪声,由于它是一个RMS电压值,所以式(4)可以表示为
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式中,f是相应的频率偏移。
由不同频率成分噪声调制到载波输出引起的单边带噪声,由下式表示
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由式(8)可见,对于给定的VCO,由于Kpush是一个确定的值,因此由LDO噪声引起的VCO输出相噪是由LDO的噪声频谱密度(Noise Spectrum Density)决定的。

3、采用不同LDO进行射频频综供电对比测试

3.1 TPS7A8101/TPS74401频综供电对比测试

TPS7A8101和TPS74401是TI推出的两款高性能LDO芯片。与TPS74401相比,由于具有更高的环路增益和带宽,TPS7A8101具有更高的电源噪声抑制比(PSRR);然而

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