高速逻辑分析仪探测

结论

本文说明了使用逻辑分析仪成功地探测高速数字系统的考虑因素。从本文中可以看出，探头在目标上产生了负荷，具体取决于探头固有的负荷及探头在传输线上的位置。我还说明了目标的拓扑结构和寄生信号会使探针上观察的信号完整性劣化。在使用逻辑分析时，这两个因素都应该考虑在内。

作者简历：

Brock LaMeres从蒙大纳州大学获得电子工程学士学位，从科罗拉多大学获电子工程硕士学位。他目前担任安捷伦科技公司硬件设计工程师，负责设计逻辑分析仪中使用的高速印刷电路板。他还是Colorado Springs的科罗拉多大学微处理器系统讲师。其研究课题包括传输系统和高速数字系统建模和检定。