嵌入式系统的系统测试和可靠性评估
时间:03-09
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功能4 | ||||||
功能5 |
注意,对于最大值与最小值的差值超过5的情况,应该重新测试响应功能。
(2)容错性评估
容错性评估分为控制容错性评估、数据容错性评估、硬件故障恢复容错性评估:
容错性=以下各条款评分之和÷条款数
控制容错性度量
①对并发处理的控制能力;
②错误的可修正性和处理可继续进行能力。
数据容错性度量
①非法输入数据的容错;
②对相互冲突的要求和非法组合容错;
③输出数据是否合理容错。
硬件故障中恢复容错性度量
故障后恢复能力容错。
(3)易恢复性度量
与易恢复性紧密相关的测试是强度测试和健壮测试。强度测试又称为力度测或极限测试,主要测试系统对空间强度和时间强度的容忍极限;健壮测试又称异常测试,是很重要的可靠性测试项目。通过易恢复性测试,一方面使系统具有异常情况的抵抗能力,另一方面使系统测试质量可控制。
易恢复性=以下各条款评分之和÷条款数
①空间强度可恢复;
②时间强度可恢复;
③数据强度可恢复;
④异常通信可恢复;
⑤数据破坏可恢复;
⑥电池极限可恢复。
(4)测试可信度评估
测试可信度是对测试质量的有效评估,是保证质量的必要步骤。目前虽然很难有量化的指标,但我们采取积分的方式显示可信度。例如,请4个人员(甲、乙、丙、丁)对系统5个功能打一个从0(不信任)到10(完全信任)之间的分数,那么,可信度度量可以用表3进行计算。
3 测试实例
(1)电流测试
电流测试是嵌入式系统的系统测试中首先要进行的重要测试,也是最容易被忽视的测试。主要是测试系统的工作电流、待机电流。人们一般把它当成与系统测试无关的硬件测试。但是对于嵌入式系统,软件与硬件不可能清晰地划分,硬件的性能直接影响软件的运行。实例1说明了电流测试对系统运行的影响及不可替代的作用。
测试现象描述:进行同一厂商PDA系统测试,有几台PDA在名片子系统、行程子程序的操作过程中随机死机。
我们当时的错误分析定位是:①怀疑操作系统中断处理错误;②怀疑内存泄漏,堆栈溢出;③怀疑应用程序错误。
在软件开发人员为解决这个问题检查软件时,硬件开发人员提出应首先测试一下这几台机器的工作电流。结果发现,PDA的工作电流低于正常工作电流。加电容调整后随机死机问题消失。
由此例还可以看出,嵌入式系统测试的软硬件测试不可分性。绝对的将硬件测试和软件测试区分开来的测试思想是不正确的。我们在系统测试时的电流测试设计如表4。
表4 电流测试
测试电流项目 | 测试结果(不同的产品对电流要求不同) | 备 注 | |
预期值 | 实测值 | ||
待机电流/mA | 关机后电流测试 | ||
启动电流/mA | 开机瞬间电流测试 | ||
工作电流/mA | 正常工作电流测试 |
(2)兼容性测试
考虑到嵌放式系统软硬件的开发成本高于通用PC系统,因此,提高软件对硬件的兼容及软件升级版本的兼容性极为重要。表5是便携林翰林电子书升级版本兼容性测试实例。
表5 兼容性测试
兼容性测试分类 | 硬件兼容性 | 操作系统兼容性 | 应用软件兼容性 | PC制书软件兼容性 |
BIOS兼容测试 | ||||
BIOSV1.0 | ||||
BIOSV2.0 | ||||
操作系统兼容测试 | ||||
VOLF V.1.0 | ||||
VOLF V.2.0 | ||||
应用软件兼容测试 | ||||
READER V.1.0 | ||||
READER V.2.0 | ||||
PC制书软件兼容测试 | ||||
PCREADRE V1. | ||||
PCREADER V2. |
实例2:现在的嵌入式系统的层次结构一般分为硬件层、BIOS层、操作系统层、应用系统层。有的还需要通用PC应用软件支持。因此,嵌入式系统的兼容性测试要考虑硬件兼容性、BIOS兼容性、操作系统兼容性,还需考虑与相应PC应用软件的兼容性。
结语
本文的测试方法和评估方法在具体的嵌入式系统测试中,获得很好的效果。这是一项很有意义的工作,不仅要求嵌入式系统的测试人员具有很全面的软硬件知识,还需结合测试理论、统计方法,面对不同的系统进行测试方法、工具、过程评价及质量评估。随着嵌入式系统的多样性和复杂性发展,嵌入式系统的系统测试研究将继续深入。
参考文献
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5. Wayne Wolf 嵌入式计算系统设计原理 2002
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8. ISO9000-3:1993标准.内部资料
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10. GB/T17544-1998.信息技术 软件包 质量要求和测试 1999
作 者:南开大学 李庆诚 张建华 雷杨
来 源:单片机与嵌入式系统应用 2003(8)
- 在嵌入式多核集群中利用OCP处理高速缓冲器一致流量(07-20)
- 嵌入式智能设备的测试方法研究(11-29)
- 基于ARM的信号发生器人机交互系统设计(01-23)
- 采用C8051F020设计的嵌入式测试仪(01-17)
- 关于嵌入式智能设备的测试方法的研究(01-28)
- 基于μC/OS-II的电力参数监测仪设计(02-23)