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LTE芯片及终端测试

时间:02-10 来源: 罗德与施瓦茨中国有限公 点击:

上,可以提供测试用例的全自动化运行,测试报告强有力的分析功能和全方面的报告汇总功能。提供了易于使用的测试计划,脚本级研发测试应用和全面测试工具,这加速了LTE研发测试进度。

   (6)LTE MIMO天线的OTA测试

  OTA测试(天线性能测试)是无线设备认证测试时的一个重要测试项目。而LTE采用的MIMO天线技术由于其复杂性而给OTA测试带来了极大的挑战。对此,R&S公司推出了一个非常经济有效的创新方法:双通道测试法。采用了该测试方法的R&S的TS8991测试系统如图2所示。OTA暗室内包含4个角度定位装置,两个测试天线和一个通信天线。此外,暗室墙角还有一个射频接入板可允许5路射频通道连接到暗室内的天线,外部设备包括无线综测仪(如R&S CMW500)和开关矩阵(OSP)。整个系统由R&S公司的 AMS32软件实现全自动测量,并出具测量报告。

  

  图2 支持双通道法的MIMO OTA测试系统TS8991

  4 LTE终端生产

  对于终端生产,R&S的CMW500无线综测仪无疑是最合适的解决方案。它是一台双通道、全标准、多功能的宽带无线综测仪。CMW500是业界首台支持LTE信令的无线综测仪,它既可以用于前面提到的协议研发和认证测试,还可以用于互操作性、流量、数据应用和射频测试。独特的双通道设计使得CMW500成为测试MIMO接收机性能的最佳选择。CMW500几乎可以覆盖所有的无线通信标准。既支持如2G/3G/HSPA+/EVDO Rev.B,WiMAX,LTE等蜂窝技术,也可以支持WLAN,蓝牙,FM,GPS,CMMB等非蜂窝技术。

  LTE终端往往是多模、多技术和多频段终端。如LTE/WCDMA/GSM,LTE/TD-SCDMA/GSM,LTE/EV-DO/cdma2000等多模,而且还可能配置WLAN/WAPI,CMMB,蓝牙,GPS,FM立体声等非蜂窝技术,并且还要支持每个通信标准各种频段。因此,对LTE综测仪第一个要求是,要能支持各种无线通信技术;由于要测试的无线技术和频段增多,可以想像,测试时间将大大加长,因此对LTE综测仪第2个要求是,测试速度极快。R&S的CMW500能满足这两个要求。从支持的无线技术来说,CMW500几乎可以支持所有的无线通信技术;从测试速度来说,CMW500不但测试速度比前一代综测仪快很多,而且它还引入了如 R&S创新的智能校准(Smart Alignment)和倍速分析(Multi-evaluation)等技术,使得其整体测试速度成倍地加快。对于生产测试来说,测试速度重要,但测试一次通过率(直通率)也很重要。由于CMW500在精度、测试可重复性和线性度等方面极出色的性能,可以显著提高生产测试的直通率;CMW500双通道的设计在研发阶段的好处是测试MIMO性能,而在生产测试的好处则变成了可以同时并行测试两台手机,这样自然就降低了测试成本(见图3)。

  

  图3 R&S的CMW500可以用于LTE研发和生产

  5 结束语

  从世博会、亚运会以及多次外场测试的测试结果看,TD-LTE系统设备商的产品运行基本正常,主要的问题表现还是在终端上。而从TD-SCDMA的发展经历可以看到,终端性能是影响产业发展的重要原因。R&S全面的LTE测试解决方案可以满足TD-LTE芯片及终端的测试需求,更好的促进产业发展。

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