解读4G LTE带来的四大技术创新

　　要理解新技术对测试设备带来什么挑战，必须对新技术所带来的技术革新要有一个本质上的理解。载波聚合只是4G技术的其中一个创新。可以从以下4个方面来了解以下4G LTE给我们所带来的技术创新：

　　首先，LTE使用的信道带宽更大，目前使用的是20MHz，而今后在引入LTE-Advanced技术后　可能增加到100MHz，而3G系统基 带带宽都在5MHz以下。所以测试仪表在设计中就需要能够支持这样的宽带信号处理，而且要能在硬件改动不大的情况下扩展到支持LTE-Advanced 的更大带宽，即比3G（W-CDMA）系统要求的带宽大5到20倍的同时要做的可扩展，这将使许多现有3G测试系统被淘汰出局。

　　其次，LTE使用阶数更高的调制技术（64QAM），因而要求测试设备接收器具有更好的处理信噪和失真方面的性能，从而能够精确地测量这些数据率更高，且有很高峰/均值比的信号。

　　第三，LTE-advanced技术将会同时使用连续和非连续信道绑定技术来提供比LTE技术更高的数据率。这种技术能在相同的频带内、甚至以跨频带 的形式使用多个20MHz的信道。如果在相同的频带内，这可使仪器的带宽需求提高到100MHz之大（即5个20MHz）。如果是跨频带的情况（即 4–1700MHz ，2100MHz 和17–700MHz几个频带），那么，仪表配置就需要支持测试仪内的多个同步的信号发生源（VSG）和信号分析仪（VSA）。这是一种更具挑战性的要 求，因而老一代测试设备无法支持。随着今后LTE-Advanced技术的引 入将扩展至100MHz带宽的信道，这样将淘汰很多不具备足够带宽的3G测试仪。Litepoint顺应电子产业历史发展潮流，早在2010年2月就推出了高效的LTE测试仪IQxstream，其内置的100M的解调带宽不仅满足 LTE的需求，同时为100M带宽的LTE-A做好了充足准备。

　　• IQxstream 10-port

　　- 2x 100 MHz VSA / VSG bandwidth

　　- Parallel RX testing

　　- Parallel TX testing

　　• IQxstream 5-port

　　- 100 MHz VSA / VSG bandwidth

　　- Serial RX testing （carrier aggr. on DL only）

　　- Parallel TX testing

　　第四， LTE是特别强调多天线技术的， 从2x2 MIMO， 4x2 MIMO， 到以后的8天线， 多天线的配置是更加的复杂; 对于测试仪表来说， 在基带处理上要能支持这样的配置， 特别是在上行和下行的射频端口的设计上要充分考虑到多天线的要求， 而且要留下可扩展的余地。

　　最后，LTE在全球有40个或甚至更多已定义的频带，因此，智能手机如想覆盖全球所有的LTE频带，就需要支持多达10个频带（比3G技术要求的5个 多得多）。这意味着需要为智能手机设计更多的天线，并且测试设备应带有更多的射频端口，即LTE测试设备需支持更多的射频端口（每部手机3个）。以中国移动去年发表的TD-LTE终端需求白皮书来看，建议终端5模10频段-12 频段，对测试仪器的要求就更加广泛，通常手机中还要要求测试WiFi、蓝牙、GPS、FM、 甚至CMMB等。这使得测试手机所需的时间将翻倍，除非有更精良且先进的测试方案被引入。