新型雷达数字电路便携式自动测试系统设计

　　插入模拟故障（U8-6 stuck to 0）,重新仿真：扫描链测试-->PASS-->B-Scan器件簇测试-->PASS-->NB-Scan器件簇测试 -->Failed (Report: Pin(s): U3-25, R26-2, U8-6, R26-1 possible stuck at low, the BS nodes is U31-21(R/W))。

　　上述仿真结果表明，融合MERGE方法所构建的基于边界扫描的板级自动测试系统，自动化程度高，故障隔离准确有效。

结语

　　边界扫描技术可以实现对数字电路的高速测试，不但可以减少ICT测试高昂的夹具开发成本，缩短测试时间，还能够满足时延故障和芯片性能测试的要求。本文主要针对基于边界扫描技术的测试系统实现难度大、故障覆盖率低等问题，创造性的提出了MERGE法边界扫描技术。通过对该方法的深入研究，构建了基于该技术的新型雷达数字电路便携式自动测试系统。经综合评定该系统性能可靠，符合我军新型雷达装备维修保障的要求，具有良好的发展前景。目前该ATE正担负着新型雷达装备数字电路的维修保障任务，其整体设计思路对同类型故障诊断平台的研发具有重要的借鉴价值和参考意义。