X波段微带带通滤波器的仿真设计
每50片三氧化二铝基板的厚度,均测自4.40英寸x3.70英寸的面积上由12个点组成的阵列,同时对基板的长轴和短轴进行两次长度和宽度测量。
表2是50片三氧化二铝基板的Er、损耗角正切和厚度分布数据,以及“最好”和“最差”的基板数据。
带通滤波器(BPF)仿真和测量
期望的BPF规格如表3所示,它选自于X波段性能。BPF测量采用了HP8510C VNA,其带有一个完整的双端口SOLT(短路-开路-负载-直通)微调装置。
反复使用奇/偶模式阻抗分析,对侧部边缘耦合滤波器的初步设计进行了评估。根据该设计计算得出的衰减程度和VSWR结果见图4。在10,100MHz和10,200MHz之间存在最小的VSWR(1.07)和衰减(1.8dB)。
图5是侧部边缘耦合BPF拓扑设计。该设计采用 GSG “共面”源端口和负载端口,四周布置过孔接地笼。微带谐振器的几何尺寸为长5.52mm,宽0.330mm,耦合隙为0.152mm。
图6 是自由谐振条件下的无损耗S21和S11参数
对导体几何尺寸和电气属性的精确控制是实现优异性能的关键。对于滤波器的应用频率,谐振器耦合发生在 ?/4元件上时,耦合效果最强。这种耦合线结构的缺陷是需要微小的缝隙来实现强大的耦合。由于这些元件是由导线构成的,导线的几何精度和一致性分别决定了所需阻抗的匹配度和耦合度。为控制导体的几何尺寸,可采用高度共形的电阻和尺寸补偿布线,以实现电镀导体的垂直/水平生长纵横比。使用这些设计/工艺特性,可以生产长25~50mm的3μm导线和空隙。
图7是 10GHz自由谐振条件下的电场。
微带几何结构的散射特性(非均质介质)会引起偶模和奇模相位速度的不对称。
图8~9是自由谐振条件下的 S21和S11损耗参数 。
对谐振高Q滤波器结构,使用四面体网孔建模进行了三维全波EM仿真。在计算S参数时,使用了降阶模型法。电磁场的评估则使用考虑到损耗的模型分析(固有模式)来进行。对分立式滤波器(自由谐振)和谐振腔滤波器(封闭谐振)都进行了分析。
模型报告
图 10是实际测量 (S21, S11)。
本文小结
X波段微带通带滤波器已经过了EM仿真、薄膜制造和VNA测试。仿真特性和测量得的滤波器特性具有良好的一致性:因数为10.1GHz;S21<1.3dB;电压驻波比(VSWR)为 1.1;带宽在1dB、3dB和10dB时分别为340MHz、380MHz和800MHz;形状因子为0.054dB/MHz。
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