电子元器件筛选方案的设计原则及筛选项目

度试验又称恒定应力加速度试验。这项筛选通常在半导体器件上进行，把利用高速旋转产生的离心力作用于器件上，可以剔除键合强度过弱、内引线匹配不良和装架不良的器件，通常选用20000 g 离心加速度持续试验一分钟。

监控振动和冲击

在对产品进行振动或冲击试验的同时进行电性能的监测常被称为监控振动或监控冲击试验。这项试验能模拟产品使用过程中的振动、冲击环境，能有效地剔除瞬时短、断路等机械结构不良的元器件以及整机中的虚焊等故障。在高可靠继电器、接插件以及军用电子设备中，监控振动和冲击是一项重要的筛选项目。

典型的振动条件是： 频率20～2000 Hz ，加速度2~20 g ，扫描1~2周期，在共振点附近要多停留一段时间。典型的冲击筛选条件是1500^ -3000g ，冲击3~5 次，这项试验仅适用于元器件。

监控振动和冲击需要专门的试验设备，费用昂贵，在民用电子产品中一般不采用。

除以上筛选项目外，常用的还有粗细检漏、镜检、线性判别筛选、精密筛选等。