多功能存储器芯片的测试系统设计方案
时间:07-15
来源:EEFOCUS
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据就是对NAND FLASH地址寄存器的写操作。
验证与总结
将写好的FPGA程序和调试的C代码写入FLASH后,掉电重配置FPGA,串口的输出能正常识别所有设置好的存储器芯片,并能够进行准确地读写功能测试。达到了设计目的。
本文介绍了一种低成本、简单、灵活的多种存储器芯片测试系统的硬件设计,并采用FPGA、FLASH、SDRAM、RS232电路等实现。采用这种方案,用户可根据市场需求,灵活的增加测试系统功能,实现更多的存储器芯片测试。
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