微波EDA网,见证研发工程师的成长!
首页 > 硬件设计 > 硬件工程师文库 > 圆片级测试MEMS器件的解决之道

圆片级测试MEMS器件的解决之道

时间:10-05 来源:网络整理 点击:

一的压力容器探测系统。

  最近,MEMUNITY完成了协同PAR-TEST项目的工作,该项目的研究目标是定义MEMS器件生产中所用材料的特性,使工程人员可以利用这些特性。更明确的是,人们研究了一些高级测量技术,能够使工程人员判断出MEMS器件生产中所用材料的质量参数——这些参数对于工艺控制是非常关键的。

  MEMUNITY协同的PAR-TEST项目的一项成果是开发出了一种集成式圆片级MEMS器件测试系统,该系统采用了一种活动的膜片(membrane),例如在压力传感器中。该测试系统是一种半自动探测系统(SUSS PA200),具有精确、自动的定位和圆片绘图功能,通过一个静电探针卡驱动膜片,利用一个激光多普勒计(Polytec MSA-500)测量面外(out-of-plane)运动。通过测量本征频率可以提取到该膜片的特征参数,所得到的数据结果用于优化器件设计和制造工艺,以及确定好坏的管芯测试。 

Copyright © 2017-2020 微波EDA网 版权所有

网站地图

Top