明导：转向使用即插即用的分层 DFT 的好处

间互连的IC层测试图案。灰盒模型在这里被应用。它是设计后期的 ATPG 步骤，因为所有内核设计和 TAM 首先必须在此之前完成。

六、下一步是什么？

分层 DFT的扫描和包装器插入、灰盒生成和测试图案重定向等基本特性为许多设计提供了一个显著优势。但是选择哪些模块并行测试，哪些串行测试，使测试效率得到优化还需要很多做很多工作。有效的顶层规划要求一些内核测试图案信息必须是有效的。与帮助确定最佳压缩配置的压缩分析的功能类似，顶层TAM规划在内核设计可用时更为高效。针对这个问题正在开发的方法之一是将IC信道带宽动态分配给各个内核。这样的话，在设计TAM前就不需要知道内核测试图案的性质。此外，动态分配扫描信道将减少整个测试图案集的大小。

七、报告总结

分层DFT方法正在被许多设计所采用，它显著加快了 ATPG 的速度，降低了工作站的规模。这对于数亿门或以上的超大规模设计来说至关重要。分层DFT 的另一大优点是它很大程度上改进了工序，带来了即插即用的便利。因此，只要内核设计完成，那么更多的DFT和 ATPG 工作可以在设计周期的更早阶段进行，这些都有利于降低风险、提高可预见性、以及后期的 ECO。

本文作者 Ron Press

Ron Press 是明导硅测试解决方案产品的的技术营销经理。他在测试和 DFT行业有着25年的经验，曾多次出席全球各地的DFT和测试研讨会。他出版了数十篇与测试相关的论文，是国际测试会议 (ITC) 指导委员会的成员，IEEE计算机学会的 Golden Core 成员，IEEE的高级会员。Ron拥有多项减少引脚数测试和无干扰时钟切换的专利。